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大電流通電実験、温度実験など測定を組合せ ご希望の条件で測定します。
大電流通電時の溶接部の抵抗値や発熱温度は？通電時間による変化は？耐久試験後の変化は？実測することでお悩みを目で見える形にしました。 又、数種類の装置を組み合せることで、より実情に近い形の測定に近づけることも可能です。見学も可能です。 詳しくはHPからお問い合わせください。 http://www.sankei-engineering.com/
貴社と同等の環境を設定し、発生している現象をデータ化できます！
通電時に回路上で何が起こっているのか？接触抵抗値はどのように変化しているのか？何度まで発熱しているのか？実験によって発生している現象をデータで確認できます。数種類の装置を組合せ、貴社と同等の環境を設定し測定します。原因解明にご検討ください。 詳しくはホームページから：http://www.sankei-engineering.com/
4端子測定法は測定信号線のインピーダンスによる影響がなくなるため、低インピーダンスの測定に有効！
当資料は、定電圧測定法の原理について掲載しております。 Hi-pin・Low-pin間に定電圧を印加してやり、Hi-pin・Low-pin間に流れる 電流をオペアンプと基準抵抗で電圧に変換し、基準抵抗両端の電圧を 測定し、抵抗値を測定する「定電圧測定法」をご紹介。 説明に図も掲載されており、参考にしやすい一冊となっております。 是非、ご一読ください。 【掲載内容(抜粋)】 ■基盤実装・品質・技術 ■2端子測定法の原理(定電圧) ■4端子測定法の原理(定電圧) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
