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充実した解析機能を搭載！振動の多い環境においても、安定した測定が可能
『ENT-NEXUS(ネクサス)』は、フレームとユニットの自由な 組み合わせが可能なモジュール構成を採用し、ナノインデンテーション 試験をはじめ、表面力測定など多彩な測定が可能な 超微小押し込み硬さ試験機です。 高荷重ユニット、低荷重ユニットなど、目的に応じた測定ユニットを NEXUSフレーム(架台)にマウント。 メンテナンス時も、ユニットごとの交換に対応していますので、 装置のダウンタイムを最短にすることができます。 【特長】 ■モジュール構成 ■ナノインデンテーション試験 ■圧子先端補正方式 ■優れた操作性 ■高いデータ再現性 ■表面力測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
フレームとユニットの自由な組み合わせが可能なモジュール構成を採用！ナノインデンテーション試験・表面力測定など多彩な測定が可能！
『ENT-NEXUS(ネクサス)』は、測定ユニットを2式同時搭載可能な超微小押し込み硬さ試験機です。 高荷重ユニット、低荷重ユニットにより多彩な測定が可能です。 高荷重ユニットは、メッキ、硬質皮膜などの金属材料からDLCや樹脂素材まで幅広い材料に対応したナノインデンテーション試験が可能。 低荷重ユニットは、軟質材料や、押し込み深さ10nm以下の測定に対し、優れた繰り返し再現性と安定性が得られます。 【特長】 ■測定ユニットを2式同時搭載可能 ■高荷重ユニット、低荷重ユニットにより多彩な測定が可能 ■低荷重ユニットオプションで、二物体間に働く表面力測定が可能 ■フレームとユニットの自由な組み合わせが可能 など ※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。
高荷重ユニット、低荷重ユニットにより多彩な測定が可能！フレームとユニットの自由な組み合わせが可能なので多彩な測定が可能に！
『ENT-NEXUS(ネクサス)』は、高荷重ユニット、低荷重ユニットにより多彩な測定が可能な超微小押し込み硬さ試験機です。 高荷重ユニットは5μN～までの幅広い荷重領域を網羅し様々なサンプルを測定可能で、低荷重ユニットは押し込み深さ10nmで再現性のある高精度試験に対応いたします。 両ユニットは簡単な作業で取り替え可能で故障時のメンテナンスも容易です。 【特長】 ■測定ユニットを2式同時搭載可能 ■高荷重ユニット、低荷重ユニットにより多彩な測定が可能 ■高荷重ユニットは5μN～までの幅広い荷重領域を網羅 ■低荷重ユニットは押し込み深さ10nmで再現性のある高精度試験に対応 など ※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。
アクティブコントロールの高性能除振台を標準装備！ノイズ源となる振動をキャンセルし、振動の多い環境においても安定した測定を可能に！
『ENT-NEXUS(ネクサス)』は標準で高精度のアクティブ除振台を搭載した超微小押し込み硬さ試験機です。 高いデータ再現性を持った『ENT-NEXUS(ネクサス)』は、熱ドリフトによる測定への影響を最小化するため、シールドケース内を±0.1℃で温度コントロールしています。 また、ステージをはじめ主要部品に低熱膨張材を使用。 極めて再現性のよい測定を可能にしています。 【特長】 ■アクティブコントロールの高性能除振台を標準装備 ■振動の多い環境においても安定した測定が可能 ■シールドケース内を±0.1℃で温度コントロール ■極めて再現性のよい測定が可能 など ※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。
粘弾性試験から加熱試験、電気抵抗値試験等幅広いオプションに対応！ISO 14577－1/JIS Z 2255に準拠した試験に対応
『ENT-NEXUS(ネクサス)』はISO 14577－1/JIS Z 2255に準拠したナノインデンテーション（超微小押し込み硬さ）試験に対応した超微小押し込み硬さ試験機です。 高荷重ユニットでは5μN～2Nまでの試験が可能。 金属材料から高分子材料まで幅広い材料の硬度試験に対応します。 低荷重ユニットは0.5μN～10mNに対応。 100nm以下の極薄膜を対象とした試験をも可能にしています。 両ユニットは簡単な作業で取り替え可能で故障時のメンテナンスも容易です。 【特長】 ■ISO 14577－1/JIS Z 2255に準拠した試験に対応 ■粘弾性試験から加熱試験、電気抵抗値試験等幅広いオプションに対応 ■国産メーカーのため故障時の対応が迅速 ■簡単な作業で取り替え可能でメンテナンスが容易 など ※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。
