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MIL・IEC・JASOなど国内外の規格試験にジャストフィットした2ゾーン方式！
『TSD』は、試料へ均一な温度ストレスを与え、研究・開発から検査・ 生産分野まで幅広いフィールドで使用できる昇降式の冷熱衝撃装置です。 操作性・視認性を向上したネットワーク計装を搭載し、Ethernet接続で デスクにいながら遠隔監視/管理が可能になりました。 また、小型・少量の試験にお応えする空冷式の小型冷熱衝撃装置「TSE」 もございます。 【特長】 ■＋150℃⇔-65℃、温度復帰5分を実現 ■テストエリア移動時間10秒以内 ■安定した温度分布性能 ■振動・衝撃を低減 ■試料を保護するテストエリア落下防止機構 ■充実した安全対策 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
試料への均一な温度ストレスを与える 昇降式の２ゾーンテストエリア
MIL ・IEC ・JASO など国内外の規格試験にジャストフィットした2 ゾーン式の冷熱衝撃装置。 【特長】 規格試験に求められる高性能を実現！ ●2ゾーン(+150℃・-65℃)により試料の温度復帰時間を短縮 ※設定温度が＋150℃と−65℃、プラスチックモールドIC試料10kgの場合、試料の温度復帰時間を15分以内で実現しました。 ●MIL-STD-883をはじめとする規格試験に対応 ※M I L−STD−8 8 3をはじめ、JIS C 60068-2-14-Naなどの試験規格に対応 ●安定した温度分布性能 ※テストエリア内への空気の流れを均一に分散させ、優れた温度分布性能を実現しています。 それにより試料へ均一な熱ストレスを与え、試料間の試験結果のばらつきを最小限に抑えます。 ●昇降式の2ゾーンテストエリアにより試験時間が短縮 ●試料温度測定が行える試料温度トリガーを搭載
