検査マイクロスコープ - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

【半導体検査向け】CMXシリーズ

ウエハーの外観・内面検査に好適なFA用マイクロスコープユニット

半導体業界における検査工程では、ウエハーの微細な欠陥や異物の検出が、製品の品質と歩留まりを左右する重要な課題です。特に、製造プロセスの高度化に伴い、より高い精度での検査が求められています。CMXシリーズは、可視光から短波赤外域まで幅広い波長に対応し、ウエハーの外観・内面検査において、高精度な画像取得を可能にします。 【活用シーン】 ・ウエハーの外観検査 ・ウエハー内面の異物検査 ・半導体デバイスの品質管理 【導入の効果】 ・高精度な検査による品質向上 ・歩留まりの改善 ・検査時間の短縮