欠陥検出システム - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

【半導体向け】画像解析による自働化ソリューション

半導体製造の欠陥検出を画像解析で実現。品質安定と人手不足解消をサポート。

半導体業界では、微細な欠陥の検出と、製造プロセスの安定化が製品の品質と信頼性を確保する上で重要視されます。特に、目視検査に依存する工程では、検査員の熟練度に左右されたり、人手不足が生産効率に影響を与える可能性があります。微細な欠陥を見逃すことは、製品の不良につながり、歩留まりの低下を招く恐れがあります。当社の画像解析による自働化ソリューションは、これらの課題に対し、客観的なデータに基づいた高精度な欠陥検出と検査工程の自働化を実現します。 【活用シーン】 ■製造ラインにおける微細な異物や傷の検出 ■ウェハーやチップの外観検査 ■製造プロセスの異常兆候の早期検知 【導入の効果】 ■検査精度の向上とばらつきの低減 ■検査工程の自働化による人件費削減と生産性向上 ■熟練者への依存度低減とノウハウの標準化 ■データに基づいた品質改善活動の促進