TCC（急速温度変化）試験
試料温度制御と空気温度制御による温度サイクル試験が可能
・試料温度基準で最大15℃/minの温度勾配制御が可能 ・JESD22-A104E、IEC60749-25の規格試験に対応 ・試料温度ランプレート15℃/分以下（-40～125℃）の規格試験を、正確に行うことが可能
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
温度サイクル試験機(半導体デバイス) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり
温度サイクル試験機の製品一覧
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信頼性試験･分析/解析
電子デバイス･モジュール等の各種信頼性試験、分析/解析サービスのご提供
信頼性評価をしたい、不適合品の不具合原因を調べたい、製品状態を細かく観察したい等、様々なPKGタイプの半導体製造で培ったノウハウでお客様のご要望にお応えいたします。 ■信頼性設備 ・温度サイクル試験機 ・恒温恒湿試験機 ・PCT試験機 ・落下試験機 ・高温恒温器 ・・・他 ■分析/解析設備 ・SEM-EDX ・FT-IR ・SAT ・薬品による樹脂開封 ・断面研磨機 ・・・他
- 企業：エスタカヤ電子工業株式会社
- 価格：応相談
