超広角カメラ低照度測定用多目的チャート『TE42-LL UW』
超広角カメラ向け低照度測定において最適な多目的テストチャート！ImageEngineering社製の精選テストチャートをご紹介！
『TE42-LL UW (TE42-LL Ultra-Wide)』は、ImageEngineering社の低照度測定用多目的チャート『TE42-LL』を超広角カメラ向けに改良したテストチャートで、テスト画像に存在する歪曲収差が原因で正確な解像度の測定が困難な超広角カメラの低照度測定に適しています。歪曲収差が存在する場合（超広角カメラにおいては一般的）でも解像度をより正確に測定できるように、格子状のターゲットを使用しています。 TE42-LL UWは、iQ-Analyzer-X ソフトウェアのバージョン 1.10.0以降で解析可能です。
- 企業：トライオプティクス・ジャパン株式会社 イメージエンジニアリング事業部
- 価格：応相談
