アスペクト比2種対応低照度測定チャート『TE42-LL 2AR』
2種のアスペクト比に対応可能な低照度測定用多目的テストチャート！ImageEngineering社製精選テストチャートをご紹介！
『TE42-LL 2AR (TE42-LL Two Aspect Ratios)』は、ImageEngineering社の低照度測定用多目的チャート『TE42-LL』に2種のアスペクト比が組み込まれたテストチャートで、4:3 と 16:9 の両方のアスペクト比が 1 枚のチャートにまとめられています。チャートの中心はTE42-LLとまったく同じですが、2種の異なるアスペクト比に対応するために、外側に Siemens starsが追加されています。このバージョンには仕切り壁があり（簡単に挿入または取り外しが可能）、「ツイン」シーンを作成することができます。
- 企業：トライオプティクス・ジャパン株式会社 イメージエンジニアリング事業部
- 価格：応相談
