産業用CT micromelx neo/nanomelx neo
現場での使用に効率的でコンパクトな2D X線および3D CTスキャナのご紹介
『micromelx neo/nanomelx neo』は、1つのシステムで 高分解能2DX線技術と3Dコンピュータ断層撮影(CT)スキャン機能を提供し、 電子機器の半導体、PCBA、リチウムイオンバッテリーなどの電子部品の 非破壊検査(NDT)を実現します。 革新的なエンジニアリングに加えて非常に高い位置決め精度を 備えており、プロセスおよび品質管理、故障解析、研究開発における 産業用電子部品のX線検査に適しています。 【特長】 ■簡単にプログラムできるCADベースのμAXIを使用したマイクロメートルの 測定範囲で検査の自動化が可能 ■アクティブ冷却で180 kV設定でハイダイナミックなライブイメージングを実現 ■鮮明なライブイメージングと高速データ取込 ■非常にダイナミックなDXRフラットパネル検知器で毎秒30フレームを実現 ■オプションで10秒以内の3D CTスキャンを提供 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 尚、イプロスにご登録されている個人情報は、弊社正規代理店にも共有、ご連絡させていただく場合がございます。ご了承ください。
