反射用レプリカ解析システム『ASA-03RXD』
スピーディで豊富な解析項目と、簡便な操作性を実現！高精度な測定が可能
『ASA-03RXD』は、高性能デジタル画像処理により、高精度な測定ができる 反射用レプリカ解析システムです。 採取したレプリカに平行光を角度30度で照射する事により、得られる キメ・シワ等の形状に応じた陰影画像をCCDカメラで撮像。専用解析ソフトで 画像処理する事によりキメ・シワ等の形状、定量解析を行います。 シワでは得られた解析画像を基に深度に応じて色が変化するため、 合成画像による深度の変化が捉えやすくなりました。 【特長】 ■専用の解析ソフトはキメ・シワ等の識別を自動認識で行い、個数、体積、 面積等を自動的に計算するとともに、識別された部位を着色表示できる ■高性能デジタル画像処理により、高精度な測定が可能 ■採取したレプリカを専用マウントに固定する事により、レプリカ自体の変形、 位置ずれが少なく、キメ・シワ等の走向に合わせたレプリカの撮影が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：日本アッシュ株式会社 本社
- 価格：応相談
