蛍光X線分析
試料に含まれる元素の非破壊分析。RoHS規制 有害元素のスクリーニング分析にも対応化。
非破壊分析で、液体・固体試料の何れも分析が可能という特長があり、迅速・簡易な元素分析として広く用いられております。精度は落ちるものの定量分析も可能で、未知試料のスクリーニング分析として最適です。
- 企業:株式会社DJK
- 価格:応相談
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試料に含まれる元素の非破壊分析。RoHS規制 有害元素のスクリーニング分析にも対応化。
非破壊分析で、液体・固体試料の何れも分析が可能という特長があり、迅速・簡易な元素分析として広く用いられております。精度は落ちるものの定量分析も可能で、未知試料のスクリーニング分析として最適です。
材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。
蛍光X線分析装置(XRF)を用いて、微量元素・軽元素の高感度分析を実施致します。 弊社所有の蛍光X線分析装置(XRF)は波長分散型X線分析法(WDX)を採用しており、高精度な定性・定量分析を実施することが可能です。 WDXはエネルギー分散型X線分析法(EDX)よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析(判別)やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測定などにご利用いただけます。