蛍光X線分析
試料に含まれる元素の非破壊分析。RoHS規制 有害元素のスクリーニング分析にも対応化。
非破壊分析で、液体・固体試料の何れも分析が可能という特長があり、迅速・簡易な元素分析として広く用いられております。精度は落ちるものの定量分析も可能で、未知試料のスクリーニング分析として最適です。
- 企業:株式会社DJK
- 価格:応相談
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試料に含まれる元素の非破壊分析。RoHS規制 有害元素のスクリーニング分析にも対応化。
非破壊分析で、液体・固体試料の何れも分析が可能という特長があり、迅速・簡易な元素分析として広く用いられております。精度は落ちるものの定量分析も可能で、未知試料のスクリーニング分析として最適です。
実用上ほぼすべての元素に対して元素分析が可能です!
当社が行っている「蛍光X線分析」についてご紹介します。 試料にX線を照射すると、試料に含まれる各元素から、それぞれの元素に 特有の波長を持つ蛍光X線が発生します。この波長から、元素の種類を 同定することができ、さらに蛍光X線の強度を測定することで、 各元素の濃度を定量的に求めることが可能です。 当社の装置はOやCといった軽元素の検出にも対応しており、 無機材料に加えて高分子材料など、幅広い試料の分析が可能です。 【分析に必要な試料】 ■微量の粉末試料や数mm程度の金属片等があれば定性分析が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
材料分析・異物分析に適した微量元素・軽元素の高感度分析を実施します。
蛍光X線分析装置(XRF)を用いて、微量元素・軽元素の高感度分析を実施致します。 弊社所有の蛍光X線分析装置(XRF)は波長分散型X線分析法(WDX)を採用しており、高精度な定性・定量分析を実施することが可能です。 WDXはエネルギー分散型X線分析法(EDX)よりも波長分解能が高く、微量元素や軽元素の検出感度にすぐれています。金属試料の材料分析(判別)やセラミック試料の材料分析、メッキの膜厚測定などにご利用いただけます。