テクスチャー解析（テクスチャー・ロス ）テストチャート
ImageEngineering社製の精選テストチャートをご紹介！
コントラストを抑えた正弦波Siemens starはテクスチャー・ロス、つまり低い コントラストの微細な細部の欠損を解析するのに極めて適しており、 イメージングシステムのテクスチャーの損失はノイズ低減やその他の 画像処理技術により発生します。 テクスチャー解析のための将来のISO規格195767-1は、低コントラストの Siemens starの使用する方法で成立しています。ImageEngineering社の 解析ソフトウェア「iQ-Analyzer」の解像度モジュールは、新製品「TE280」 チャートを含み、Siemens starの解析をサポート。 枯れ落ち葉構造と位置合わせと線形化のために必要な周辺のマーカーで 構成された「TE276」もラインアップしております。 【ラインアップ】 ■TE280 ■TE276 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：トライオプティクス・ジャパン株式会社 イメージエンジニアリング事業部
- 価格：応相談
