透過型電子顕微鏡のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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透過型電子顕微鏡×株式会社ロンビック - メーカー・企業と製品の一覧

透過型電子顕微鏡の製品一覧

1~8 件を表示 / 全 8 件

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TEMによるPE/CNF(セルロースナノファイバー)の観察

PE中のCNF(セルロースナノファイバー)分散状態観察事例をご紹介しております!

当社ホームページでは「透過型電子顕微鏡(TEM)によるCNF複合材料の 観察」についてご紹介しております。 高分子の結晶構造、ポリマーアロイのモルフォロジーの観察で培った、 染色を含めた超薄切片の作製技術、TEM観察技術を用いることで、樹脂に 複合されたCNF(セルロースナノファイバー)の観察が可能となりました。 PE中のCNF分散状態観察の写真や、拡大写真なども掲載しております。 ぜひ、ご覧ください。 【掲載写真】 ■PE中のCNF分散状態観察 ・PE/CNF分散状態観察 ・PE/CNF拡大写真 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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TEMによる発泡樹脂材料の形態観察

発泡体のセル壁内の結晶構造が観察できます!

当社では、形態観察として「透過型電子顕微鏡(TEM)による発泡体の観察」 を行っております。 高分子の結晶構造観察やポリマーアロイのモルフォロジー観察で培った 超薄切片作製の技術を応用かつ向上することにより、発泡体のセル壁内の 結晶構造を観察することが可能。 また、PE以外の樹脂、複合材料でも観察実績があり、染色技術を組み合わせる ことでポリマーアロイのセル壁の分散状態を観察することができます。 【特長】 ■PE以外の樹脂、複合材料でも観察実績あり ■染色技術を組み合わせることでポリマーアロイのセル壁の分散状態を観察可能 ■軟質素材の発泡体でも観察可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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透過型電子顕微鏡によるスチレン系エラストマーの微細構造観察

SEBS中の微細構造(ミクロ相分離構造)が観察可能!!

弊社では、透過型電子顕微鏡(TEM)によるスチレン系エラストマーの 微細構造観察を行っております。 スチレン-エチレン/ブテン-スチレンブロック共重合体(SEBS)等のスチレン系 熱可塑性エラストマー中の微細構造(ミクロ相分離構造)をTEMで観察。 その結果、スチレン系エラストマー2種類で微細構造に違いがあることが示され、 これらのエラストマーは樹脂改質材として広く添加使用されており、複合材料中での スチレン系エラストマーの分散状態についても、弊社の電子染色技術によりTEM観察が可能。 その他、ブロック共重合体やグラフト共重合体の微細構造のTEM観察にご興味ある方も ご相談下さい。 【特長】 ■複合材料中でのスチレン系エラストマーの分散状態についても、  電子染色技術によりTEM観察が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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透過型電子顕微鏡によるスチレン系樹脂中の微小分散ゴムの観察

微小分散ゴムドメイン(ブタジエンゴム)のサラミ構造を観察!構造の違いが明確に分かります

弊社では、透過型電子顕微鏡(TEM)によるスチレン系樹脂(HIPS、ABS)中の 微小分散ゴムの観察を行っております。 耐衝撃性ポリスチレン(HIPS)とアクリロニトリロ・ブタジエン・スチレン (ABS)樹脂中の微小分散ゴムドメイン(ブタジエンゴム)のサラミ構造を観察。 両者のサラミ構造の違いが明確に分かります。 ご用命の際は、お気軽に弊社までお問い合わせください。 【概要】 ■微小分散ゴムドメイン(ブタジエンゴム)のサラミ構造を観察 ■サラミ構造の違いが明確に分かる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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TEMによる樹脂の結晶構造、ポリマーアロイのモルフォロジー観察

樹脂の結晶構造、分散状態等の観察・評価が可能です!

当社ホームページでは「透過型電子顕微鏡(TEM)による結晶構造、 ポリマーアロイのモルフォロジー観察」についてご紹介しております。 高分子の結晶構造、ポリマーアロイのモルフォロジーをTEMを用いて観察する には、超薄切片を作ることが必要です。また電子線透過度に差をつける 為に染色が必要となります。 主な染色剤と染色可能な樹脂を表でご紹介している他、観察例も 掲載しておりますので、ぜひ、ご覧ください。 【掲載内容】 ■主な染色剤と染色可能な樹脂 ■観察例 ・HDPEの結晶構造 ・ポリマーアロイの分散構造観察例 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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インク中のCNF(セルロースナノファイバー)のTEM観察

セルロースナノファイバーボールペンのインク固形分中のCNFを観察!

当社で行った「透過型電子顕微鏡(TEM)によるセルロースナノファイバー (CNF)観察」についてご紹介いたします。 これまで培ってきた樹脂材料の透過型電子顕微鏡(TEM)観察のノウハウを 生かして、市販セルロースナノファイバーボールペンのインク固形分中の CNFを観察。 インク顔料と絡み合ったようにみえる約10nm幅(太さ)のCNFが観察でき、 インクには解繊状況の異なるCNFが混在していることがわかりました。 【観察結果】 ■インク顔料と絡み合ったようにみえる約10nm幅のCNFが観察された ■サブミクロン幅のCNFも観察 ■数nm程度の細いミクロフィブリルが何本も束になって100nm程度の  太さの繊維を形成している ■インクには解繊状況の異なるCNFが混在している ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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透過型電子顕微鏡(TEM)によるブロックポリプロピレンの分散構造

ブロックPPの分散構造をTEM観察!エラストマーやCNF複合材料なども観察可能

弊社では、透過型電子顕微鏡(TEM)によるブロックポリプロピレンの 分散構造を行っております。 ゴムドメイン内部のEPR成分やPEのラメラ晶が、またPPマトリックスでは ラメラ晶が鮮明に確認することが可能。 ブロックPP単体だけでなく、エラストマーや他樹脂、CNF(セルロースナノ ファイバー)等のフィラー成分を添加した複合材も観察できますので、 お問い合わせ下さい。 ■ゴムドメイン内部のEPR成分やPEのラメラ晶が確認できる ■PPマトリックスではラメラ晶が鮮明に確認できる ■フィラー成分を添加した複合材も観察できる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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透過型電子顕微鏡(TEM)画像の定量化(画像解析)

TEM画像だけでなくSEM画像からも、画像解析ができる!各種機械物性評価も実施可能

当社では、透過型電子顕微鏡(TEM)画像の定量化(画像解析)を 行っております。 高分解能のTEM像やSEM像を画像解析することで、樹脂中の微小分散ゴム ドメインの分散状態などを数値化(定量化)することが可能。 微小分散ゴムの分布評価の活用事例 ・ゴムドメインの分散状態が、樹脂の機械物性にどのような影響を  もたらすのかを把握する。…各種機械物性評価も弊社で実施可能です。 ・押出条件や成形条件がゴムドメインの分散状態にどう影響するのかを把握する。 【特長】 ■TEM画像の2値化処理により、ゴムドメインを抽出し、これを基にドメイン径  (評価パラメータ)のヒストグラムを作成し、ドメイン径分布を評価 ■評価パラメータは他にも、ドメインの長軸長・短軸長やドメインの個数、  占有面積、面積率なども求めることが可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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