透過型電子顕微鏡 透過型電子顕微鏡(TEM)でサンプルの微細構造がナノレベルで観察が可能に! 弊社では、高精度なTEM観察用薄片サンプル作製と高度なTEM観察技術から鮮明なサブナノオーダーの構造観察が可能です。 企業:株式会社イオンテクノセンター 価格:応相談 受託解析 ブックマークに追加いたしました ブックマーク一覧 ブックマークを削除いたしました ブックマーク一覧 これ以上ブックマークできません 会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます 無料会員登録