半導体部品の欠陥検出 「遠心定加速度試験装置」
高加速度試験（最大34,000rpm、100,000G）。槽内温度コントロールが可能。JIS、MIL、IEC等の規格試験に対応。
「遠心定加速度試験装置」は、半導体部品の構造上・機械的欠陥の検出をします。 【特徴】 ローター室保護のために鋼鉄製の二重リング銅やスライドドアを採用 回転体のアンバランス検地に非接触の渦流センサーを採用 モーターの回転数が設定値より20%を超えると停止する過回転保護機構を採用 本体の異常振動検知に振動スイッチを採用 真空度のチェックに真空監視機構を採用 その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
- 企業：エア・ブラウン株式会社 電子機器部
- 価格：応相談
