電子デバイス信頼性評価サービス

広範囲温度下でのデバイスの性能保証をご提供します！

当社が提供している「電子デバイス信頼性評価サービス」についてご紹介いたします。 5Gや高速・大容量通信、高性能コンピュータなどを支えるキーデバイスの環境因子の変化に対応し、広範囲温度下でのデバイスの性能保証をご提供します。半導体プロセスと評価試験及び周辺電子部品・材料評価試験など、様々な試験に対応しております。ご用命の際はお気軽にご連絡ください。【半導体プロセスと評価試験及び周辺電子部品・材料評価試験(一部)】 ■TDDB評価試験ウェハー評価(AMM-TDDB-W) ■TDDB評価試験/半導体パラメトリック試験(AMM-TDDB-C/AMM/AMI) ■バーンイン(メモリ/ロジック/車載デバイス/センサー)(RBC/RBS/RBM/MBI) ■エレクトロマイグレーション評価 (Cu/Al/C4 Bump)(AEM) ■逆バイアス試験(パワーデバイス)(HTRB/HTGB/H3TRB/AMI) ■パワーサイクル試験(パワーデバイス)(RBS-PST) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。