X線分析顕微鏡による元素マッピング
φ10μm、φ100μmのX線プローブを搭載！微小部の元素情報の取得などに有効
当社で行っている「X線分析顕微鏡による元素マッピング」を ご紹介いたします。 当社のX線分析顕微鏡は、内蔵のカメラで試料を観察し、任意の場所で 元素(11Na〜92U)の定性・定量分析を行うことが可能。 また、マッピング分析では、元素分布情報と同時にX線透過像を 取得することもできます。 【分析例】 ■材料表面変色部の元素マッピング分析 ■プリント基板上の微小異物分析 ■樹脂内部の異物の非破壊分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：川重テクノロジー株式会社
- 価格：応相談
