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4億画素の超高解像度！CXP I/Fカメラ
『VCC-400CXP1M（モノクロ） / R（カラー）』は 4億画素の超高解像度を特長とする高性能カメラです。 超高精細な撮像が可能で、MV用途に好適です。 【主な仕様】 ■Full size 35mm ローリングシャッタ方式 CMOSセンサー ■1.5um x 1.5um セルサイズ ■映像出力フォーマット: Mono8/Mono10/Mono12/Mono14 ■データ伝送、電源供給の同軸インターフェース(PoCXP) ■最大15秒の可変シャッター ■M58マウント ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
独自開発の高精度アクチュエータを搭載し、CMOSセンサ解像度を16倍にUPしたセンサーシフトカメラ(画素ずらしカメラ)です！
【画素ずらし技術とは…】 カメラのイメージセンサの画素ピッチ間のX/Y軸を、ピエゾアクチュエータを用いサブ?m単位に移動させ、移動させる度に画像を撮像し、それらを合成することによって解像度を向上させる技術です。 25M（2500万画素）カメラでは、4回ずらし（縦横2回）で1億画素相当の解像度、16回ずらし（縦横4回）で4億画素相当の解像度を得ることが可能。 検査用途、研究/解析用途、医療用途、アーカイブ用途など、超高精度な撮像を要する様々なお客様よりお引き合いをいただいています。 製品の詳細に関しましては、弊社製品カタログをDLいただくか、弊社営業部までお問い合わせ下さい。
半導体ウエハの欠陥を高精度に検出。生産効率向上に貢献。
半導体業界では、製品の品質を確保するために、ウエハや基板の微細な欠陥を正確に検出することが不可欠です。特に、製造プロセスの高度化に伴い、欠陥のサイズはますます小さくなっており、従来の検査方法では見逃してしまう可能性があります。当社の超高画素CoaXPressカメラは、広視野角と超高精細な撮像能力により、微細な欠陥を高精度に検出します。これにより、不良品の流出を防止し、歩留まりを向上させることが可能です。 【活用シーン】 ・半導体ウエハの欠陥検査 ・基板の異物検査 ・電子部品の外観検査 【導入の効果】 ・微細な欠陥の検出精度向上 ・不良品の流出防止 ・歩留まりの向上
2億5000万画素の超高解像度！CXP I/Fカメラ
『VCC-250CXP1M（モノクロ） / R（カラー）』は 2億5000万画素の超高解像度を特長とする高性能小型カメラです。 超高精細な撮像が可能で、MV用途に好適です。 【主な仕様】 ■APS-H型ローリングシャッタ方式 CMOSセンサー ■1.5um x 1.5um セルサイズ ■映像出力モード: CoaXPress CXP6×4lanes ■映像出力フォーマット: Mono8/Mono10/Mono12 ■データ伝送、電源供給の同軸インターフェース(PoCXP) ■最大15秒の可変シャッター ■M48マウント ■ファン内蔵により放熱に優れた筐体 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
