【半導体製造向け】超高速CoFカメラ
半導体検査の高速化・長距離配線に対応。高解像度・高フレームレート。
半導体製造業界では、微細化・高密度化が進む中で、製品の品質を保証するための検査工程における高速化と高精度化が求められています。特に、微細な欠陥を見逃さず、かつ生産ラインのボトルネックにならないよう、迅速な画像取得と伝送が不可欠です。不十分な画像伝送速度や配線長の制限は、検査時間の増加や見逃しリスクにつながる可能性があります。当社の超高速CoaXPress-over-Fiberシリーズは、これらの課題に対し、光ファイバによる高速・長距離伝送で応えます。 【活用シーン】 ・ウェハー検査 ・チップ外観検査 ・実装基板検査 ・微細欠陥検出 【導入の効果】 ・検査時間の短縮による生産性向上 ・高解像度画像による精密な欠陥検出 ・長距離配線による柔軟なレイアウト設計 ・安定した画像伝送による検査信頼性の向上
