ＩＭＶの製品・サービス一覧

マイグレーションテスター「Van-EE(MIG-87)」は、小型・軽量で、いつでもどこでも試験を開始することができ設置場所を選びません。マイグレーション発生確認が簡単で、試験条件設定・コントロール・データ表示はLANケーブルにて接続したパソコンから簡単に操作できます。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

マイグレーションテスター「MIG-8600B」は、MIGシリーズの1CH→1電源方式で、安定した電圧を個別に供給し、正常時はもちろんのことマイグレーション発生時にもチャンネル間の影響は皆無です。絶縁抵抗法を各チャンネルに搭載しているので、高精度な連続測定が可能です。

マイグレーションテスター「MIG-87C」は、安定したデータを高精度に測定することができるようになりました。MIGシリーズは全チャンネル印加電源・計測回路の個別搭載。チャンネルごとに電流制限回路を搭載しているので、保護抵抗は一切不用です。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

パルス印加ユニット「PMU-100」は、マイグレーションテスター(MIG)のオプションであり、MIGが定時計測時はDC絶縁計測を実行可能にします。MIGが定時計測から定時計測の間は、パルス(AC)駆動を実現します。パルス波形4モード選択可能。

イオンマイグレーションテスター「MIG-88」は、従来の絶縁抵抗(Rx)計測に加え、サンプルの誘電正接(tanδ)の計測も行うことで、従来のRxのみの計測では判らなかった試験中の絶縁劣化の傾向を把握する事を可能とします。マイグレーションテストの新しい評価方法を提案する、今までに無い高性能テスターです。

ハイサイドマイグレーションテスター「MIG-9000」は、ハイサイド測定の基本であるオープンケルビン検知をハイサイド側・リターン側共に全ch標準装備しました。測定データの保存にメモリカードを採用 。小型ディスプレイ搭載で、ホストＰＣが無くても動作状態、異常内容を表示可能です。

導通信頼性テスター「JET-80」は、ノイズに埋もれた微弱な信号を拾い出す「ロックインアンプ」と、接触抵抗の影響を取り除く「４端子測定法」、さらに、故障の原因となる可動部（メカニカルリレー等）を取り除いた「半導体スキャナー」のコラボレーションにより高速・高精度な「多チャンネル（最大320チャンネル同時測定」を実現します。詳しくはカタログをダウンロードしてください。

マイグレーションテスター専用恒温恒湿槽「THC-64/120」は、コンプレッサー式冷凍機を取り除いたことで、マイグレーション試験に悪影響を与えるとされる「機械振動」の発生がありません。さらに、従来のチャンバーで、大きな故障原因のひとつとなっていた「コンプレッサー」や「特殊冷媒」を必要としないので面倒な手間がかかりません。