【コントローラによる設定項目(例)】 <電源SW自動耐久試験機> 1)**秒間押す(電源ON) 2)**秒後(待機時間) 3)**秒間押す(電源OFF) 4)****回 繰返す(耐久回数) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 試験機器・装置

【仕様】 ■出力電圧範囲：10μV～5V ■出力レンジ(6レンジ)：×0.01、×0.1、×1、×10、×100、×1000 ■出力レンジ(フルスケール)：11μV、110μV、1.1mV、11mV、1.0V、5.0V ■出力モード切替：連続出力、任意時間出力、出力off、極性反転、任意の＋又は－出力 ■設定精度：各レンジの0.5％以下 ■温度安定度：0.02％/℃ ■出力インピーダンス：100Ω ■外形寸法・重量：210(W)×132.5(H)×150(D) 約800g ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他理化学機器

【仕様】 ＜QRT-400NK RFユニット仕様＞ 420-450MHz Anplitude-144dbm ■メジャーリングレシーバFM精度：±1％ ■入力インピーダンス：50Ω SMAコネクタ ■内部周波数リファレンス確度：±1ppm ■RBW：100Hz～ ■周波数カウンタ/FMデモジュレータ内臓 ■電源：USB2.0バス接続共給（USB3.0も可） ■使用温度範囲：0℃～70℃ ■寸法：166（W）×77（H)×28（D) ■重量：約300g ■付属品：専用アプリケーション/ソフトウエア、SMA-BNC変換器、 　　　　　USBケーブル、取扱説明書 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他電子計測器

【仕様】 ステージサイズ　：540(Y)×600(X)×810(H) 対象物最大サイズ：350ｍｍ×350ｍｍ 繰返位置決め精度：±0.03mm (X、Y、Z軸共に） 位置決め分解能　：0.01ｍｍ (X、Y、Z軸共に） 各軸ストローク　：350mm (X、Y軸）、200ｍｍ（Z軸） 最　高　速　度　：300ｍｍ/sec 機　　　　　能　：ステージ移動速度可変（３軸とも）、ストロークの可変 インターフェース：USB（VBバージョンのハンドラソフト付） 　　　　　　　　　ご希望によりGP-IBインターフェースも可 そ　　の　　他　：さらに高精度、高分解能をご希望される場合はご相談ください

• その他検査機器・装置

【仕様】 ステージサイズ　：570(Y)×620(X)×467(H) 対象物最大サイズ：250mm×250ｍｍ 繰返位置決め精度：±0.03mm (X、Y、Z軸共に） 位置決め分解能　：0.01ｍｍ (X、Y、Z軸共に） 各軸ストローク　：250mm (X、Y軸）、100ｍｍ（Z軸） 最　高　速　度　：300ｍｍ/sec 機　　　　　能　：ステージ移動速度可変（３軸とも）、ストロークの可変 インターフェース：USB（VBバージョンのハンドラソフト付） 　　　　　　　　　ご希望によりGP-IBインターフェースも可 そ　　の　　他　：さらに高精度、高分解能をご希望される場合はご相談ください

• その他検査機器・装置

【製作事例】 ○高周波測定器・EMC試験システム →お客様がご希望される仕様のEMCセルを特注製作 ○半導体・生産ライン用測定装置 →測定範囲、測定分解能、切り替えch規模はお客様のご要求により変更可能 ○医用・各種サービス用メンテナンスツール →お客様のご希望する測定項目、測定精度で各種メンテナンスツール作製 ○電子計測器・電源装置 →ご予算に応じて、お客様がご要求される仕様アプリケーションに 　最適な一台をご提案 ○校正業務 →各種校正機関、校正委託会社にてお客様の測定器をメーカー問わず校正 ○電源装置・特殊電源装置・光源 →お客様のご希望される仕様で、交・直流電源装置、アンプなどを製作 ○ケーブルハーネス ○計測・制御用アプリケーション・ソフトウエア ○各種検査・測定用冶具 ○携帯端末試験装置 QPS-102LZR ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• 製造受託
• EMC・静電気測定器
• 半導体検査/試験装置