【仕様】 ■システムOS：Microsoft Windows ■最大試験周波数：100 MHz／200 MHz (Max) ■タイミングセット64 set (Max) ■同時測定数：16 DUT (Max) ■I/O ピン：256 pin／512 pin／1024 pin (Max) ■ベクタメモリ：8M／16M／256M／pin ■DPS：16 ch／32 ch／72ch／144ch (Max) ■PMU：32 ch／256 pin or Per pin ■Mixed Option：AWG／Digitizer ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【その他の特長】 ■お客様の量産環境をKYECへ移管する際のサポート ■新規テストプログラム開発、コンバージョン、デバッグ、相関確認など、 　お客様要求にしたがって、量産テスト立ち上げを支援 ■歩留り低下やトラブルの分析、対策を行いお客様へご報告 ■KYEC内製のテスターやバーンイン装置を用いることにより、 　トータルコストの削減を提案 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【サービス概要】 ■テスト開発 製品仕様およびテスト仕様から、新規にテストプログラムを開発します。 お客様の指定先サイトでデバッグ、評価、相関確認などを実施し、 最終的にお客様へ成果物を納品致します。 ■コンバージョン テストプログラムコードからテスト仕様を抽出し、 テスタープラットフォーム間のコンバージョンを行います。 ■パターン変換 VCD/WGL/STIL ⇔ ATEパタンの変換サービスを提供しております。 ■ツール開発 テスト関連ツール（パタン変換、データ解析、など）の受託開発を行っております。 ※詳しくはお気軽にお問い合わせ下さい。

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