【概要】 ■半導体検査装置 ・システムは、計測装置とパソコンとデバイスハンドラで構成される。 ・計測装置は、ターンオンゲート特性・オン電流などの数項目の電圧特性・ 　電流特性を高速度、高精度（1/10000精度）で検査する。 ・パソコンは、合否判定およびハンドラ制御と、計測データ集計・ 　検査表出力などの機能を持つ。 ■センサシステム受託開発 ・各種センサを駆使したコンシューマ製品・検査／試験システムの 　受託開発を行います。 ・これらの製品や装置にfirmware制御、Bluetooth(Bluetooth Classic、 　Bluetooth LE)通信とAndroidとiOSデバイスを組み合わせた 　システム開発も十分な経験があります。 ※詳細については、お気軽にお問い合わせください。

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