当社では、画像解析による微細回路欠陥検出、携帯電話の外観検査、 測長、位置決め、粒子解析等のプログラムを開発しております。 画像データを用いた各種非接触測定、計測、検査、分析など幅広い分野で 問題を解決し、お客様のニーズに好適な画像解析ソリューションを提供します。 【開発例】 ■微細回路欠陥検出 ■携帯外観検査 ■バイト先端摩耗検査 ■三次元画像によるタイル位置、反り、長さ計測 ■表面キズ自動検査 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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