「USTER EVS FABRIQ VISION(欠点検査)」との組合わせにより、検査効率を向上させることができます。欠点が来ると検査員の目前で検査台を自動停止し、レーザーポインターが欠点位置を示してくれますので、欠点部位を探し回る必要が無く、新人検査員でも熟練した経験を持つ検査員と同等またはそれ以上の検査が可能となります。近年の労働者不足に起因し、安定した検査レベルの確保が困難な状況にソリューションを提供致します。 【特長】 ■欠点検査との組合わせにより検査効率を向上 ■欠点が来ると検査員の目前で検査台を自動停止 ■レーザーポインターが欠点位置を示す ■事前に次に来る欠点を画面で見ることができる ■微細な欠点でも簡単に発見できる 【導入事例】 ■エアバッグ基布検査 ■湿布剤基布等の衛生材料検査

• その他検査機器・装置

『USTER Q-BAR 2』は、織機搭載専用の検査システムです。 緯糸打込み前の経糸だけの領域を撮像することで、製織後では確認しづらい経糸欠点(経糸切れ,通違い,2本入りなど)を、専用アルゴリズムによって即座に検出し、織機を自動停止させることも可能。経糸事故による製品・工数作業ロスを大幅に削減することができます。また、緯糸打ち込み領域と織上がり後の領域も同時に検査できるため、緯糸欠点や汚れ異物織り込みなども検出することができます。 【特長】 ■経糸/緯糸/織上がりの３領域を同時に検査 ■耳端部レノ組織の検査も可能 ■欠点発生個所をLEDランプ表示や織機自動停止が可能 ■欠点の初期段階での検知し製品/材料ロスを削減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他セキュリティ・監視システム

『UEFS』は、幅方向にトラバースする分光光度計と精巧な解析ソフトを搭載したインライン測色システムです。 加工ラインへのインライン組込みが可能で、生地をカットする事無く、加工ライン上で連続的に測色することができ、 色見本サンプリングとその管理に掛かるコスト＋労力を削減することが可能になります。 標準 CIE L*a*b 色差測定、及び0.1ΔEの精度を持った分光光度計による CMC ΔE 計算値を提供します。 【特長】 ■システムは連続的に測色し、リアルタイムで色測定情報を表示 ■モニター上に表示できるいくつもの分類オプションを提供 ■5－5－5カラーマッチング方式に基づいて各ロールの色差を分類 ■生産効率を最適化 ■お客様の要求に沿った出荷の実施が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

『USTER BFA』は、ガラス繊維織物の毛羽欠点検出専用の検査システムです。 ※同光学系設定を使い、ガラス繊維織物以外(炭素繊維, 製紙用ワイヤークロスなどの突起状欠陥部位の検査にも有効です) 特殊な光源照射方式とカメラ撮像方式を独自開発し、視認困難な毛羽欠陥を検出。両面検査にて「一般欠点検査」と「毛羽検査」を同時に行うことが可能です。 各毛羽欠点のX,Y位置座標情報をデータとして取り出すことも可能です。 【特長】 ■欠点マップに一般欠点(色付きの点)＋毛羽欠点(微細黒点)を表示 ■毛羽の分布状況を視覚的に見ることができる ■各毛羽欠点のX,Y位置座標情報をデータとして取り出すことも可能

• その他検査機器・装置

検査品質保証システム『USTER EVS FABRIQ VISION』は、シート(Web)状の対象物(繊維織物/編物,不織布,フィルムなど)の検査に適しています。特に繊維織物の検査に古くから取り組んでおり、日本国内でも多くの導入実績があります。 カメラには画像処理DSP基盤及び外部通信/IO関連基盤を内蔵。 欠点画像情報等はLAN経由でPCへ転送します。 画像伝送系の配線が不要で、ハード処理による高速処理をコンパクト サイズで実現しています。パーツはコンポーネント化されている為、拡張性/保守性に優れています。 【特長】 ■カメラには画像処理DSP基盤及び外部通信/IO関連基盤を内蔵 ■欠点画像情報等はLAN経由でPCへ転送 ■ハード処理による高速処理をコンパクトサイズで実現 ■画像伝送系の配線が不要 ■大規模カメラシステムでも問題復旧が容易 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置