千代田光機の製品ラインアップ

『CMXシリーズ』はFAに特化した装置組込用マイクロスコープユニットです。 ◎広い適用波長域、可視光～短波赤外対応[SWIR](400nm～1700nm)を実現！ ◎センサーサイズ1.1″～対応[イメージサークルφ20mm(Cマウント][イメージサークルφ30(Fマウント)] 【特長】 ■高NA対物レンズのリアルな顕微鏡画像の描写を実現 ■バックフォーカス調整機構付き(調整範囲±2.5) ■各社対物レンズも取り付け可能 ■同軸落射式照明を標準搭載 【展示会出展】 ■国際画像機器展2025 日時：2025年12月3日（水）~ 5日（金）10:00~17:00 @パシフィコ横浜　展示ホールD 小間番号：D32 ■SEMICON Japan 2025 日時：2025年12月17日（水）~ 19日 （金）10:00~17:00 @東京ビッグサイト ※詳しくはカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

FA向けに各種精密検査や精密測定に特化した装置組込用の小型マイクロスコープユニットです。 レンズ倍率0.5X、大型素子1.1対応です。

FA向けに各種精密検査や精密測定に特化した装置組込用の小型マイクロスコープユニットです。 レンズ倍率1.0X、大型素子1.1対応です。

半導体業界における検査工程では、ウエハーの微細な欠陥や異物の検出が、製品の品質と歩留まりを左右する重要な課題です。特に、製造プロセスの高度化に伴い、より高い精度での検査が求められています。CMXシリーズは、可視光から短波赤外域まで幅広い波長に対応し、ウエハーの外観・内面検査において、高精度な画像取得を可能にします。 【活用シーン】 ・ウエハーの外観検査 ・ウエハー内面の異物検査 ・半導体デバイスの品質管理 【導入の効果】 ・高精度な検査による品質向上 ・歩留まりの改善 ・検査時間の短縮

精密機械業界における位置決め作業では、高精度な位置決めが求められます。特に、部品の組み立てや検査工程においては、わずかなズレが製品の品質に大きく影響します。従来の目視による位置決めでは、作業者の経験やスキルに依存し、精度のばらつきや作業時間の増加といった課題がありました。CMXシリーズは、高NA対物レンズとバックフォーカス調整機構により、高精度な位置決めをサポートします。 【活用シーン】 ・精密機械部品の位置決め ・組み立て工程における部品の位置合わせ ・検査工程における異物検出 【導入の効果】 ・位置決め精度の向上 ・作業時間の短縮 ・品質の安定化

電子部品実装の分野では、高品質な製品を安定して供給するために、実装プロセスの正確性と信頼性が求められます。特に、微細な部品の実装においては、位置ずれや異物の混入が製品の不良につながる可能性があります。CMXシリーズは、ウエハーの外観・内面検査において、高精度な画像取得を可能にし、実装プロセスの品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・電子部品の実装工程における検査 ・ウエハーの外観検査 ・実装後の部品の品質検査 【導入の効果】 ・実装不良の早期発見 ・品質管理の向上 ・歩留まりの改善