試験・分析・測定

東芝ナノアナリシス株式会社

住所神奈川県横浜市磯子区新杉田町8　株式会社東芝　横浜事業所内
電話045-770-3471
最終更新日：
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東芝ナノアナリシスのカタログ一覧

1～45 件を表示 ／ 全 53 件

表示件数

昇温脱離ガス分析(TDS)による水素アニール評価

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薄膜X線回折(XRD)

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XRDによるハイドロキシアパタイト顆粒の化合物同定

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電子部品の温度サイクル試験

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表面実装部品のはんだ耐熱性試験

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X線光電子分光(XPS)

製品カタログ

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自動車用バンパー塗装膜の断面観察

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アルマイトの微細構造観察

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放射光トポグラフィーによる欠陥評価

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X線照射試験

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放射光HAXPESによる埋もれた界面の評価

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金属表面のコーティング膜解析

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レジストパターンの断面形状観察

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セラミック焼結体の断面観察

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高性能磁場型SIMS

製品カタログ

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多孔性軟質材料(紙)の断面観察

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磁性金属多層膜の組成・状態分析

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ゲート電極/酸化膜界面の不純物分析

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半導体の表面・薄膜解析

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昇温脱離ガス分析(TDS)

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Siウェーハのひずみ解析

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SiC n-バッファ層の窒素濃度分析

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GaNゲート酸化膜の不純物分析

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X線反射率測定(XRR)による薄膜評価

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ウェーハベベル評価技術

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光電子分光による表面酸化膜の膜厚評価

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全反射HAXPESの応用事例

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変色した銅部材表面のXPS分析

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SAXSによるDDS製剤高分子ミセルの粒子評価

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Ti酸化物(TiOx)の酸化状態評価

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XPS分析の錠剤への応用

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高濃度層から下層膜への不純物拡散評価

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二次イオン質量分析(SIMS)

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金属部品における内部欠陥調査

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金属表面の印刷層の評価

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リートベルト解析によるX線回折データの定量分析

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高機能自動化SIMS

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高温XRDによる極薄膜の結晶性評価

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薄膜分析・評価

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【資料】受託分析サービス　信頼性評価

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【資料】受託分析サービス　非破壊観察

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錠剤崩壊性のリアルタイムX線透過観察

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崩壊遅延するOD錠の内部状態観察

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3次元X線顕微鏡によるカプセル内部の塩粒子の粒度分布測定

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錠剤内部の3次元X線顕微鏡観察

技術資料・事例集

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