Yonata Electronicsの製品ラインアップ

『B3224』は、物理層の特性評価と一貫性試験のための 高性能ビットエラーレートテスタ(BERT)です。 優れた信号品質、豊富な機能、柔軟な試験モード (統合MCBまたはリモートヘッド)により、高速シリアル 回路製品の研究開発から製造試験まで、強力な性能と 柔軟性を提供します。 データレートは24.33～120 Gbaudに対応。テストパターンは PRBS各種、SSPRQ、JP03A/B、Square Wave、カスタム定義パターンを サポートしています。 【主要仕様(一部)】 ■出力信号：差動PAM4/NRZ (AC結合) ■出力振幅：800 mVp-p (差動) ■立上り/立下り時間：＜ 4.5 ps ■入力信号：差動PAM4/NRZ (AC結合) ■クロックモード：内蔵クロックリカバリ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

『SWT5100』は、シリコンフォトニクスウェーハの自動テストを 行うための高性能なウェーハレベルテストシステムです。 ウェーハのローディングから光アライメントまで、完全に自動化された テストプロセスを提供。25℃から150℃までの温度制御が可能なチャックを 搭載し、光、DC、RFテストをサポートします。 GC結合およびEC結合の両方に対応し、単一ファイバーから ファイバーアレイまで柔軟に構成可能です。 【主要仕様(一部)】 ■対応ウェーハサイズ：8～12インチ ■対応ウェーハ厚：200～2000 um ■チャック温度範囲：25℃～150℃ ■対応テスト：光、DC、RF ■結合方式：グレーティング結合およびエッジ結合 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

『PPT8200』は、テスト効率を最適化するために設計された 「Per-Pin」アーキテクチャを採用した高性能パラレル・ パラメトリック・テストシステムです。 各ピンにSMUとPGUを搭載し、従来のシリアルテスタと比較して 50％以上高いスループットを実現。先進のソフトウェア環境により、 テストプログラムの開発を簡素化します。 量産立ち上げを加速させ、アレイテストにも対応し、高い信頼性と コスト効率を両立したソリューションを提供します。 【主要仕様(一部)】 ■アーキテクチャ：Per-Pin アーキテクチャ ■ピン数：48ピン ■構成：Per-Pin SMU、Per-Pin PGU ■電圧範囲：±200V ■電流範囲：±1A ■スループット：シリアルテスタ比 ＞50％向上 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。