『iT550/iT555』は、水冷式ペルチェ温調ヘッドで最高温、最低温を 提供できるMAXPOWER ペルチェ温調ヘッドです。 簡易ステージ、生産設備との組合せ等幅広いアプリケーションに対応。 様々なお客様の温度試験の要望にお応え致します。 【特長】 ■ペルチェ素子MAX温度範囲 －60℃～ ＋145℃まで制御可能 ■カーデバイス・車載用電子部品・半導体・材料試験等の温度特性試験に好適 ■超高速温度変化：室温～－55℃まで4分、－55℃～＋135℃まで2分 ■温度制御精度±0.1℃　RSリモート制御可能 ■プログラマブルコントローラ温調器搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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当製品は、実装基板上のICの温度試験ができるペルチェ温調ヘッドです。 －40℃から＋125℃までのワイドレンジな実験が可能。 Pt100白金測温抵抗体をセンサとして採用しています。 ラボでの手軽な卓上実験用にはハンディー型の『iT520』、 工場での評価用にはソケット装着型の『iT525』がお勧めです。 【特長】 ■－40℃から＋125℃までのワイドレンジな実験が可能 ■－40℃から＋125℃まで、わずか数分で昇温(Rtから－40℃までの降温も数分) ■Pt100白金測温抵抗体をセンサとして採用 ■±0.1℃の精度で温度制御可能 ■接触アタッチメントの凸部の形状及び寸法は、お客様の仕様にあわせ変更可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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『CHP-3050HS』は、デバイス・計測機器の温度試験に好適な ワイド冷熱プレートです。 温度試験プレートの温度範囲は＋5℃～＋80℃の広範囲な冷却・加熱が可能。 温度試験プレートサイズは約300mm×500mmで広範囲な均熱面積が得られます。 温度コントローラー内蔵のオールインワンで、即座に本格的な温度特性試験を 開始できます。 【特長】 ■広範囲な均熱面積が得られる ■冷却加熱部は高信頼の日本製ペルチェ素子使用 ■繰返しテストでの耐久性を保証 ■温度センサーの校正や動作確認に、実験室・製造現場で 　お手軽に使用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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当製品は、センサーコントロールズ社製ペルチェだけでなく、 駆動電圧の異なる他社のペルチェ製品の温度制御も可能です。 温度設定範囲が－50～＋150℃の『FC-2410/FC-3510』と、 －60～＋155℃の『FC-5410』をご用意。 この他に、複雑な温度設定プログラミングを解決できる ソフトウェア「SLP-C35J」も取り扱っています。 【特長】 ■水冷式用インターロック装備 ■最大4CHコントロールタイプも有り ■温度センサはPt100 白金測温抵抗体と熱電対(K or T選択)共用 ■SDC-35組込型適用 ■SDC-35は8ポイントの温度プログラム設定可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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『CHP-972WLC』は、プレートサイズ100×90mm、温度範囲－60℃～＋145℃まで 制御可能な極低温ペルチェ冷熱プレートです。 カーデバイス・車載用電子部品・半導体・材料試験等の温度特性試験に好適。 温度センサは、Pt100 白金測温抵抗体・熱電対(K or T選択)共用で、 温度制御精度が±0.1℃・RSリモート制御可能のプログラマブルコントローラ 温調器を搭載しています。 【特長】 ■温度センサ：Pt100 白金測温抵抗体・熱電対(K or T選択)共用 ■プログラマブルコントローラ温調器を搭載 ■結露防止窒素ガス発生装置(露点－50℃窒素供給) ■放熱側過昇サーモスタット(70℃)付属 ■専用チラーでリモート運転 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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『iT-430』は、空冷式ペルチェ冷熱プレートで高性能ヒートシンクと 強力DCファンの組み合わせで-30℃～+120℃までの温度試験が可能な ペルチェヒータクーラ温調ヘッドです。 当社独自のペルチェ素子構造により素早い温度変化と高信頼性が得られ、 専用温度制御装置と組合せ、簡単に任意の温度試験が可能。 半導体デバイスや電子部品の温特試験・医薬品の温度試験に手軽に 使用出来ます。 【特長】 ■-30℃～+120℃までの温度試験が可能 ■当社独自のペルチェ素子構造 ■素早い温度変化と高信頼性が得られる ■簡単に任意の温度試験が可能 ■手軽に使用出来る ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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『DET-4120/CHP-44LC』は、ローコストで、簡易に、広い温度域で 高精度な温度環境を提供出来る水冷式冷熱プレートです。 最高温120℃、最低温-40℃の温度範囲。 冷却加熱部分には信頼性の高い自社製ペルチェ素子を使用しています。 この他に、空冷式冷熱プレート「CHP-77HI/CHP-44HS/CHP-22HS」も 取り扱っています。 【特長】 ■空冷ユニットは室温より最大温度差-40℃ ■-40℃から＋120℃まで約5分で昇温(Rtから-40℃までの降温も2分) ■冷却加熱部は高信頼の自社製ペルチェ素子使用 ■繰返し実験での耐久性を保証 ■即座に本格的な温度特性試験を開始できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

センサーコントロールズ株式会社が取り扱う、水冷用オプションの 『チラー／窒素ガス発生装置／除湿カバー』をご紹介します。 循環方法が密閉系向循環の冷却チラー「CCA-1111」と 生成方法が膜分離方式の窒素ガス発生装置「TWC-05」などをご用意。 下記PDFダウンロードよりご確認いただけます。 【仕様(抜粋)】 〈冷却チラー「CCA-1111」〉 ■循環方法：密閉系向循環 ■温度調節範囲(℃)：-20～20(ヒータなし) ■温度調節精度(℃)：±2 ■冷凍機・冷媒：350W R407C ■外寸法(mm)：232(W)×497(D)×490(548)(H)(ノズル先端) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• ガス発生装置
• 除湿装置
• 冷却装置

『CHP-774』は、ペルチェ素子(UT7070-AL)4枚を組込み、220mm角と言う 大面積での温度試験を可能にした大面積冷熱プレートです。 アルミプレートの温度は－40℃～＋80℃と幅広い温度範囲を提供可能。 プレート面の試料取付加工はお客様のご要求に合わせて製作致します。 面内温度分布は±0.5℃、温度制御精度は±0.5℃(当社製温度制御装置使用) の高精度な温度制御が可能です。 【特長】 ■ペルチェ素子4枚を組込み、220mm角と言う大面積での温度試験を可能 ■アルミプレートの温度は－40℃～＋80℃と幅広い温度範囲を提供可能 ■プレート面の試料取付加工はお客様のご要求に合わせて製作 ■面内温度分布は±0.5℃、温度制御精度は±0.5℃の高精度な温度制御が可能 ■当社製温度制御装置使用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

『NDS-1000 型』は、振動源にピエゾ素子アクチュエータを用いた 卓上型動的粘弾性測定装置です。 試料の温度環境を制御する為にペルチェ素子による冷熱プレートで、 温度依存性の物性を計測する事で好適な品質管理が可能。 従来の大型装置に比べコストパフォーマンスや操作性に優れ、 誰でも簡単に使用する事ができます。 試料は工業製品から食料品、化成品塗料まで、固形物からゲル状物質、 液体までプランジャー(接触子)を替える事で精度よく測定が出来ます。 【特長】 ■食感の定量化が簡単に出来、食品の品質管理に好適 ■ペルチェ冷熱プレートを筐体内の収めたオールインワン構造 ■お手持ちのパソコンに接続することで、手軽に測定可能 ■試料をセットした後、測定開始までの操作がノブひとつで済む ■プランジャーの交換が工具なしでできる 　（お客様の試料に合わせたプランジャーを製作） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

センサーコントロールズ株式会社は、P/N 型熱電半導体を剛体なしに、 直接表面のアルミニウムに接合させることにより、最高レベルの 熱伝達速度を実現する『ペルチェ・モジュール』を取り扱っております。 防水仕様で低温時の結露に対応。 熱応力への耐性向上とともに、他社では困難なモジュールの 大型化（UT7070-AL）に成功しました。 【特長】 ■P/N型熱電半導体の中央に支持体を配置することにより熱歪を緩和し、 　熱応力への耐性を向上 　（10万回以上の加熱・冷却繰り返し実験に耐えられる。） ■完全日本製 ■初期不良率0％ ■抜群の信頼性 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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