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SYNC(シンク)は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm 画像解析：5～2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『SYNC』は、高精度な粒度分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒度分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒度分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm 画像解析：5～2000μm ■高精度な粒度分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 粒子径分布測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
この度、キャンペーン期間（2021/05/23）まで、「データ集CAMSIZER PART III 『”動的画像解析だから解る”マイクロメートルの世界』」をダウンロード頂けます！ぜひご覧ください。 セラミックス粒子の“粒子径分布”・“粒子形状”を精度良く測定することで、その加工特性・流動性・圧縮性・搬送特性を最適化します。 セラミックス原材料の基本特性（粒子径分布・粒子形状・比表面積など）評価は、その加工品の性能に大きく影響を及ぼすため必要不可欠です。 特に、粒子径分布と粒子形状を効率よく評価する需要が高まっています。 【特長】 ■２カメラ光学系により、幅広い測定範囲をレンズ切り替えや調整を必要とせず、 高精度測定を実現しています。 ■乾式測定：電磁フィーダ自然落下、または、圧縮空気により凝集粒子を分散して測定。 ■湿式測定：水系/有機溶媒系に対応可。ファイバー状粒子の長径、短径、そのアスペクト比評価に。 ■CAMSIZERは、ふるい分けによる測定と高いデータ一致性があります。 お気軽にお問い合わせください。 資料プレゼントキャンペーン期間：～2021/05/23
当カタログでは、さまざまな評価・解析装置をご紹介しております。 • レーザ回折・散乱、動的光散乱による粒子径分布評価 • 動的画像解析による粒子径分布・粒子形状評価 • 静的多重散乱法による分散安定性評価 • ガス吸着法による比表面積・細孔分布・真密度・触媒評価 MICROTRACは、粉粒体の物性評価におけるベストパートナーとして、 革新的な技術開発と高品質な製品ラインアップにて信頼性の高い測定結果を 得るための先進技術をお客様にご提供します。 【掲載内容（抜粋）】 ■3つの卓越したコア技術 ■粒子径分布・粒子形状評価「レーザ回折・散乱法」 ■粒子径分布・粒子形状評価「動的画像解析法」 ■粒子径・ゼータ電位「動的光散乱法／流動電位法」 ■分散安定性評価「静的多重光散乱法」 ■ガス吸着法「比表面積・細孔分布」 ■ガス吸着法「触媒評価・高圧ガス吸着量」 ■ガス吸着法「密度測定・試料前処理」 ■水銀圧入法「水銀ポロシメータ」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『SYNC』は、高精度な粒子径分布測定と画像解析による形状評価を 1台の装置で実現した粒子径分布・粒子形状測定装置です。 3本レーザ光学システムにより、粒子からの散乱光を0～165度の 高角度にて連続面として検出し、粒子径分布の高分解能測定を実現。 円形度、アスペクト比、凹凸度、円相当径、楕円短径、楕円長径、 フェレー径、等の評価が可能です。 【特長】 ■測定範囲：粒子径：0.02～2000μm 画像解析：5～2000μm ■高精度な粒子径分布と画像解析による形状評価を、1台の装置で実現 ■様々な業界でスタンダード評価装置となっている3本レーザシステムの 粒子径分布（粒度分布）測定 ■円相当径、楕円相当径（短径・長径）、フェレー径（短径・長径）、 円形度、アスペクト比、凹凸度など30以上の形状評価が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
広がるナノの世界において、これまでお客様に定評のあった UPAシリーズをさらに進化させ生まれたのが「NANOTRAC WAVE II」です。 測定原理としてヘテロダイン法、周波数解析法など先端技術を採用。 広範囲な濃度測定、高精度・高分解能を実現し、長年の経験の中で培われた 技術力と品質でナノに秘められた可能性をお客様にお届けします。 【特長】 ■測定原理（動的光散乱法：DLS） ■低濃度から高濃度まで安定したデータ ■ヘテロダイン法の採用 ■バックグラウンド測定 ■独自の周波数解析アルゴリズムの採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『MT3000 IIシリーズ』は、マイクロトラックに3本の半導体レーザを 搭載し、ワイドレンジ・高分解能を実現した粒子径分布（粒度分布）測定装置です。 粒子の光散乱情報から正確に粒子径情報を検出する為には、0～360度の 光散乱情報を検出する必要があります。 マイクロトラックでは独自のトリレーザーシステムを採用することにより、 すべての散乱光を連続して検出することが可能な機構となっています。 【特長】 ■同一モジュールで4機種ラインアップ（アップグレード可能） ■3本レーザーと独自の検出機構 ■外部セル方式の採用により、湿式測定と乾式測定の切り換えがスムーズ ■測定光学部と循環部がセパレートなため、試料の特性に応じて、 試料供給器をフレキシブルに選択可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『NANOTRAC FLEX』は、プローブ機構を外部に取り出したことで、ビーカー 等様々な容器でフレキシブルに測定できる粒子径分布（粒度分布）測定装置です。 豊富な実績のナノトラックシリーズの特長はそのままに、流動電位測定 装置Stabinoとの組み合わせにより更に多くのアプリケーションへ対応可能。 ナノ粒子径測定装置として世界最小レベルの大きさとなっております。 【特長】 ■粒子径：0.8～6500nm ■高分解能測定（散乱光のヘテロダイン検出／周波数解析） ■水系から有機溶媒系での測定が可能 ■幅広い濃度で安定したデータを提供 ■測定原理（動的光散乱法：DLS） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
N2分?は材料表?を均?に覆うのに対して、H2O分?は材料表?の 親?サイトに優先的に吸着することから、両吸着質を用いて、材料の 親疎?性評価が可能となります。 図に示すカーボンナノチューブCNT-A、-BのN2@77.4 K 吸着等温線より、 それぞれType VI、Type IIとなり、BET-plot をとると、BET（N2） 比表?積はCNT-A で10.4 m2 g^-1、CNT-B で 44.6m2 g-^-1と求まります。 また両試料のH2O@298.15 K吸着等温線を取得した結果を図に表示。 カタログをダウンロードして閲覧いただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『BELCRYO』は、吸着装置と連動し、自動測定が可能な低温可変温度 制御ユニットです。 50Kの極低温から温度制御ができ、10MPa以上の高圧測定にも対応。 冷媒では制御できなかった任意の温度でのガス吸着測定が可能になり、 液体酸素などの冷媒が不要で、測定時間の制限もありません。 【特長】 ■50Kの極低温から473Kまでの温度制御が可能 ■冷媒では制御できなかった任意の温度でのガス吸着測定が可能 ■液体酸素などの冷媒が不要で、測定時間の制限もない ■測定ソフトと連動し、前処理から測定までIn-situで全自動測定が可能 ■10MPa以上の高圧測定にも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『BELSORP HP』は、高圧測定を全自動で行うことが可能な 高圧ガス吸着量測定装置です。 高圧測定専用設計とすることで、従来問題となっていた コストやサイズ、安全性を大幅に改善。 解析はマイクロトラック・ベルが開発した「BEL-Master」を 使用することで、複雑な解析を誰にでも簡単に行うことができます。 【特長】 ■高圧ガスの吸着量を全自動測定 ■水素吸蔵材料の評価に好適 ■非理想性補正による正確な吸着量計算 ■吸着速度解析ソフト「BELDyna」(オプション) ■液体窒素レベルコントローラー(オプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『BELREA』は、さまざまな触媒反応を評価するための触媒分析装置です。 オーダーメードで設計しますので、ご希望に応じた仕様で製作が可能。 腐食性ガス、高圧、多検体並列、全自動など幅広いご希望に対応いたします。 蒸気導入や高圧反応にも対応可能な「BEL-REA-AT」をはじめ、 低価格かつコンパクトな「BEL-REA-M」などもラインアップしています。 【特長】 ■検出器との協調制御で全自動測定 ■蒸気導入や高圧反応にも対応 ■ご要望に応じてカスタマイズ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『BELPYCNO』は、ガス置換法を用いた真密度測定装置です。 Heなどの不活性ガスを置換し、圧力変化を測定することでさまざまな サンプルの密度を測定します。 ガス置換による測定法ですので、試料の僅かな空隙や細孔まで拡散し、 正確な密度を短時間で求めることが可能。 高分解能密度測定、膨張室体積可変機構、グリースレスワンタッチ機構や タッチパネルなどの新技術を採用し、精度と使い勝手を両立しています。 【特長】 ■高分解能密度測定 ■膨張室体積可変機構 ■グリースレスワンタッチ機構 ■タッチパネル ■JIS Z 8837とISO 12154に準拠 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『BELMETAL3』は、測定ポートを3つ備え、前処理を同時に行うことで 効率的な金属分散度測定を実現しました。 測定は全自動で行いますので誰にでも簡単に操作でき、実験者のスキルに 左右されること無く、再現性のよいデータを得ることができます。 また、測定結果は自動的にレポート形式で出力されますので、 複雑な計算を行う必要はありません。 【特長】 ■多検体連続測定による効率的な測定 ■自動開放型強制空冷電気炉による測定時間の短縮 ■充実した安全機構 ■パルス法による金属分散度測定 ■効率的な3検体連続自動測定 ■急速冷却による測定時間の短縮 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『BELCAT II』は、燃料電池、セラミックスなど、さまざまな分野で ご利用いただける触媒分析装置です。 検出器には高感度な4素子熱伝導度検出器(TCD)を採用しています。 さらに基板の改良により高分解能化を実現。 また、8ヶのガスポートを備え、全てのガスが前処理およびパルスガス、 さらに標準搭載されたガス混合機能にも使用できます。 ガスをつなぎ替えることなく、さまざまな測定に対応が可能です。 【特長】 ■最適化されたガス流路 ■高分解能TCD検出器 ■3重試料管の採用 ■コンパクト設計 ■豊富なガスポートとガス混合機能の標準化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『AEROTRAC II』は、短い測定間隔で高精度な粉粒体解析するレーザ回折式 の粒度分布（粒子怪分布）測定装置です。 限られたスペースでも装置設置が可能！ガスレーザでは必要な定期的なレーザ交換が不要です。 高濃度の噴霧粉粒体でもレーザー光多重散乱の影響を最小に補正して 高精度測定が可能。 また、連続測定における測定間隔は0.02msec～500msecで、音速で空間を 飛翔する粉粒体の特性でも連続的に高精度測定ができます。 【特長】 ■幅広いアプリケーション ■多重散乱補正ソフトウェアを標準装備 ■各アプリケーションに対応した測定モード ■コンパクトな光学台 ■短い測定間隔で高精度な粉粒体解析 ■半導体レーザ搭載 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、大気非暴露下における全固体電池の固体電解質(酸化物・硫化物) のイオン伝導性向上のための比表面積・緻密性評価についてご紹介しています。 近年、全固体電池は高出力密度、安全性の観点で注目を集めています。 固体電解質（酸化物系・硫化物系）の粒子が小さく(比表面積が高い)、 緻密性(無孔性)が高いことが、イオン伝導性を向上させる上で非常に 重要となります。 【掲載内容】 ■概要 ■実験 ■結果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料では、昇温脱離法によるCB、GCBの表面特性評価を紹介しています。 カーボンブラック表面の官能基やエッジの評価は、材料設計を行う上で 重要となり、酸素を含む表面官能基は特に重要で触媒性能、電気化学的性質 などに大きく影響しています。 そこで、昇温脱離法を用いて、GCB、NGCBを不活性ガス流通下で昇温・加熱し 表面含酸素官能基を分解・脱離したH2O、H2、CO、CO2を定量することで、 表面官能基の定量が可能となります。 測定にはBELCATIIを用い、それぞれ1g程度の各カーボンブラックを 50℃～1000℃までHeガス流通下で昇温脱離させ、脱離ガススペクトルを TCDもしくは四重極質量分析計を用いた評価を行いました。 【掲載内容】 ■GCBの昇温脱離スペクトル評価(TCD/Q-mass) ■NGCBの昇温脱離スペクトル評価(TCD/Q-mass) ■GCB、NGCBの昇温離脱スペクトルから得られた各分子数(面積当たり) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料では、3種類のA型ゼオライトの細孔分布を5種類のProbe分子を 利用して評価した結果を紹介しています。 ゼオライトのマイクロ孔のウインドウ細孔分布を評価する方法の1つに モレキュラープローブ法があります。 この方法はProbe分子の分子ふるい効果を利用するため、ゼオライトの 細孔分布を直接評価することができます。 【掲載内容】 ■A型ゼオライトの吸脱着等温線(@298.15K) 前処理：400℃、4hr ■3A、4A、5Aゼオライトの累積細孔容積分布、細孔容積分布(@298.15K) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、等量微分吸着熱によるカーボンブラックの表面特性評価について、 グラフなどを用いて、ご紹介しています。 吸着現象において発生する熱を「吸着熱」といい発熱を伴います。吸着は 「吸着質と固体表面との相互作用」と「吸着質間の相互作用」の和となり、 これら相互作用の和は「吸着熱」として表されるため、吸着熱は吸着材の 固体表面特性を評価する上で重要です。 この吸着熱は熱量計を用いて評価する方法と、異なる温度(最低、2点以上)で 測定した吸着等温線からClausius-Clapeyron の(式1)より求める方法があります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、CY法によるメソポーラスY型ゼオライトのマイクロ孔評価に ついてご紹介しています。 CY法(Cheng-Yang)は、HK法を拡張し、ゼオライトのケージ型ミクロ細孔を 仮定して算出した式や、「ケージ型細孔モデル」のイメージ図や 「Y型ゼオライトの吸着等温線」などを図を用いて解説。 ぜひ、ご一読ください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、SF法によるメソポーラスゼオライトのマイクロ孔評価について、 図やグラフなど用いてご紹介しています。 SF(Saito-Foley)法はシリンダー型マイクロ孔を仮定し、HK法を拡張した式1 により細孔径と相対圧の関係式が得られます。 NH4型ZSM-5(MFI型ゼオライト)を大気圧下で535℃、3hr加熱処理し調製したH+型 ZSM-5は、200nm前後の多面体層状粒子の凝集体で、粒子間はスリット型の細孔 からなることが確認できます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、HK法による活性炭AX21のマイクロ孔評価について、図やグラフを 用いてご紹介しています。 HK(Horvath-Kawazoe)法ならびにSF(Saito-Foley)法は、マイクロ孔に特化 した細孔分布の評価方法です。 Horvath-Kawazoeは、カーボンスリット型細孔を仮定し、マイクロ孔内に存在 する吸着分子が受ける平均ポテンシャルをLennard-Jonesポテンシャルから 計算しています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、SiO2/Al2O3の異なるY型ゼオライトのN2・Ar分子の吸着挙動に ついて、画像やグラフを用いてご紹介しています。 四重極モーメントを持つN2分子は、ゼオライトなどのAlカチオンと強く 相互作用し吸着（特異吸着）するといわれています。 N2@77.4 K、Ar@87.4 K吸着等温線および、それぞれのαsカーブ[相対圧:p/p0 (横軸)、各相対圧における吸着量(V)をp/p0=0.4での吸着量V0.4で規格化した 値(V/V0.4):αs(縦軸)]から、各吸着質を用いて、何が評価可能か?を検討して みます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料では、αs法による活性炭AX-21の構造評価について、グラフや表を 用いてご紹介しています。 αs-plot法(SPE法:Subtracting Pore Effect)は、各種材料が持つ各細孔の 表面積や細孔容量などの評価が可能です。 αs-plotから得られる解析結果(各細孔の表面積や細孔容量)はt-plotのそれと 同等ですが、αs(-)は無次元のため、吸着層の厚み(t)、(nm)を考慮したt-plot と比べ、下限値などの制約がなく、より低相対圧の情報(マイクロポア情報) を詳細に把握することが可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料では、t-plot法によるメソポーラスゼオライトの構造評価（応用編4） について、グラフや表を用いてご紹介しています。 NH4型ZSM-5を大気圧下で535℃、3h加熱処理し調製したH+型ZSM-5は、SEM 画像より、200nm前後の多面体層状粒子の凝集体で、粒子間はスリット型の 細孔からなることが確認できます。 H+型ZSM-5のN2、77.4K吸脱着等温線では、p/p0=0.43で閉じるヒステリシスが みられ、微粒子間のメソ孔の存在が見られます。 吸着等温線はTypeI+IVに分類され、粒子内にマイクロ孔が存在することも わかります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、t-plot法によるY型ゼオライトの構造評価（応用編3）について、 グラフや表を用いてご紹介しています。 Y型ゼオライトのN2@77.4K吸脱着等温線はTypeI+IVに分類され、マイクロ孔と メソ孔が存在することがわかります。 このことから、本等温線のシリカの基準t曲線を用いたt-plotを示し、 各細孔の表面積、細孔容積を解析した結果をまとめています。 ぜひ、ご一読ください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、t-plot法によるメソポーラスシリカMCM-41の構造評価（応用編2） について、グラフや表を用いてご紹介しています。 メソポーラスシリカMCM41のN2@77.4K吸脱着等温線はTypeIVbに分類され、 メソ孔が存在することがわかります。 本等温線に基準t曲線としてシリカを用いたt-plotを確認すると、毛管凝縮起因 である上方へのずれが見られ、メソ孔の存在が確認できます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、t-plot法による活性炭素繊維の構造評価（応用編1）について、 グラフや表を用いてご紹介しています。 活性炭素繊維（kuractive:クラレ社製）のN2@77.4K吸脱着等温線はType Ia に分類され、マイクロ孔が存在することがわかります。 本等温線を基準t曲線にGCBを用いて、t-plotで評価すると、マイクロ孔の 充填によるt-plotの傾きが急激に変化し、外部表面への吸着が確認できます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、t-plot法による各種材料評価(基礎編)について、グラフや表を 用いてご紹介しています。 Lippensとde Boerにより考え出されたt-plot法は、各種材料の表面積や 細孔容量などを求めることが可能な手法です。 無孔性材料の石英砂(a)、マイクロ孔をもつハイシリカゼオライト(b)、 メソ孔をもつポーラスシリカDevelosil(c)のN2@77.4K吸脱着等温線の吸着枝 を無孔性シリカ(SiO2)の基準t曲線を用いて変換したt-plotから、それぞれ の表面積、細孔容量を検討します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、INNES法によるメソポーラスゼオライトのメソ孔評価について、 イメージ図やグラフを用いてご紹介しています。 メソ孔を有する材料の細孔分布を吸着等温線から解析する場合、必ず細孔形状 の仮定が必要となります。 細孔形状がシリンダー型の場合はBJH法、スリット型の場合はINNES法を用います。 INNES法もBJH法と同様にkelvin式を用いてメニスカス径を計算し厚みの補正を行い、 細孔径が評価できます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、BJH法によるポーラスシリカのメソ孔評価について、グラフなど を用いてご紹介しています。 BJH理論（Barrett-Joyner-Halenda）を利用したメソ細孔の細孔分布は、 吸着等温線から3つの仮定に基づき解析します。 ある温度の吸着質はメソ（マクロ）細孔内において毛細管現象により 飽和蒸気圧が低くなるため、吸着質の凝縮（=毛管凝縮）が起こります。 【BJH理論3つの仮定】 ■細孔形状がシリンダー ■半球状のメニスカスで接触角は0° ■吸着層（厚みt）の補正 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、Kr吸着測定による低比表面積評価についてご紹介しています。 無孔性金属材料、ガラス基板やlowK膜などの低比表面積の材料評価において、 N2@77.4Kではなく、Kr@77.4K吸着等温線から、BET比表面積を評価しますが、 これはなぜか?また、その適用範囲について説明しています。 ぜひ、ご一読ください。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料では、AFSMによる細孔径の測定再現性について、グラフや方程式を 用いてご紹介しています。 AFSM=Advanced Free Space Measurement(US Patent:6.595.036)は、液体窒素 などの冷媒の液面を一定に保つ必要がなく、吸着測定中の室温変化や酸素溶解 による冷媒の温度変化を加味したフリースペース変化の実測が可能なため、 比表面積評価同様、より高精度に細孔径を評価することが可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料では、AFSMによるBET比表面積の再現性向上について、図やグラフを 用いてご紹介しています。 フリースペース連続測定；AFSM:Advanced Free Space Measurement(特許取得済) は、LN2やLArなどの冷媒を必要とする吸着等温線測定時に、冷媒の液面を保持 することなく、測定中に随時実測したフリースペースに基づき吸着量を評価 する手法です。 各吸着平衡点で実測したフリースペースを用いるため、測定中の室温変化や 酸素溶解による液体窒素温度の変化を考慮することができ、正確かつ再現性の 高い吸着量評価が可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、活性炭(TypeI吸着等温線)のBET比表面積評価について、 グラフなどを用いてご紹介しています。 マイクロ孔を持つ活性炭やゼオライトは、通常I型(TypeI)の吸着等温線と なります。 これらの材料のBET比表面積評価を行う場合、その材料が持つマイクロ孔の 曲率が大きく、吸着質のパッキングが制約されることから、多分子層が形成 できずBET理論は成立しないため、比表面積を過小評価します。 当資料では、このようなI型のBET比表面積の評価方法について説明します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、ポーラスシリカ(TypeIV吸着等温線)BET比表面積評価について、 グラフなどを用いてご紹介しています。 ある質量をもつ粉の比表面積(単位質量当たりの表面積)は、細孔の存在、 または、その粒子径が小さくなると増加します。この比表面積は、吸着等温線 から3つの仮定に基づいたBET理論により評価できます。 TypeII、IVの吸着等温線の場合、p/p0=0.05-0.3(単分子層を形成する相対圧範囲) の間でBET式の直線に乗ります。 【BET理論3つの仮定】 ■表面エネルギーは均一 ■吸着分子間の相互作用はない ■2層目以上の吸着エネルギーは凝縮エネルギーに等しい ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当資料は、吸着等温線から得られる情報についてグラフを用いて、 ご紹介しています。 吸着等温線は、一定温度における横軸=圧力（P）もしくは相対圧（p/p0）、 縦軸=吸着量（STP:標準状態:273.15 K.100kPa）で表します。 比表面積・細孔分布解析を行う場合、横軸は各測定点の圧力（=平衡圧）を 飽和蒸気圧で除した相対圧で表すため、その範囲は0から1となり、0では 前処理後の状態1では全細孔内（空隙内）に吸着分子が充填された状態 （飽和状態）となります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
●TPD測定による酸・塩基性評価やパルス測定による金属分散度、 BET比表面積や吸着破過曲線、各種触媒反応などさまざまな測定が可能 ●ガス混合機能の標準化により任意の比で混合ガスを調製可能 ●蒸気導入ユニットの低価格・オプション化を実現
