互換性の高い10 slotsテスト・ヘッド 最大周波数50/100 MHz、データレート 100/200 Mbps 同時測定個数：最大512サイト デジタルI/Oピン：最大1024ピン ベクタメモリ：32/64 MW PMU (DC測定機能)：最大32ch ピン毎に機能を保有 (timing/PPMU/frequency measurement) スキャンメモリ 最大 4G depth /32 scan chains ALPG (メモリ測定機能) オプション タイミング精度：±300ps 高電圧ピン：最大64ch 多チャンネル電源：DPS 96ch 32ch HDADDA (ADC/DAC測定機能)オプション 8~32ch VI45(±45V) アナログオプション 2~8ch PVI100(±100V) アナログオプション MRX オプション(for 3rd party PXI/PXIe applications) 他社テスタからのテストプログラム/テストパターンコンバータ可能 STDF データ出力サポート テストヘッド内の空冷 コンパクトテストヘッドと小型フットプリント

【カタログ種類】 ・製品ダイジェストカタログ2019 ・電源装置製品案内 ・受動部品試験器/電気安全試験器製品案内 ・EVソリューションカタログ ・バッテリーソリューションカタログ ・レーザーダイオードソリューションカタログ ・時勢部品ソリューションカタログ ・VPGソリューションカタログ ・各種電子計測器単品カタログ ・ソリューションシート　etc...