一般財団法人材料科学技術振興財団　MSTの製品ラインアップ

試料の測定によって得られた結果と、シミュレーションの併用により、結晶構造の評価が可能です。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石において、HAADF-STEMとEDXの測定によって得られた結果と、各々の測定条件を用いたシミュレーション像の比較から結晶構造の考察を行った事例を紹介します。測定結果と計算シミュレーション結果の併用により、結晶構造に対する理解を深めることが可能となります

ペロブスカイト太陽電池は、フィルム状で優れた変換効率を有し、低コストで製造できることから、実用化に向けた研究開発が盛んに行われています。 HTM層（ホール輸送層）の成分分析や主成分、ドーパント、不純物の深さ方向分布評価には、TOFSIMS（飛行時間型二次イオン質量分析法）が有効です。本資料では、HTM層からペロブスカイト層までの深さ方向分析を実施した事例を紹介します。 測定法：TOF-SIMS 製品分野：太陽電池 分析目的：同定、分布評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

ペロブスカイト太陽電池は、目的や役割に応じて様々な種類の有機材料で構成されています。本資料では、LC/MSにより有機材料を定性分析した例を紹介します。高分解能のMSスペクトルとMS/MSスペクトルを用いることで、ホール輸送材料やホール輸送層の添加剤を同定することができました。サンプル間の比較や、標準試料を用いることで、同定した材料を定量することも可能です。 測定法：LC/MS 製品分野：太陽電池 分析目的：組成評価・同定 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

環境試験 電子部品やデバイスなどに環境による負荷をかけたときの耐性を評価します。 信頼性評価試験 製品の信頼性や安全性に関わる項目を評価します。

HAXPESでは励起光に硬X線（Ga線）を用いており、通常のXPS測定で用いられるAl線・Mg線とはオージェピークの位置が異なります。そのため、Al線・Mg線測定において光電子ピークとオージェピークが重複した試料でも、Ga線測定ではその重複を回避でき、詳細な結合状態評価が可能です。 本資料では、Ga線（HAXPES搭載）およびAl線・Mg線（XPS搭載）で測定した、コバール（Fe、Ni、Coの合金）およびGaNのスペクトルを紹介します。

高分解能HAADF-STEM像は、結晶の原子配列を反映した画像であることから、種々の結晶方位に対応 したSTEM像をシミュレーションすることにより、多結晶体中の結晶粒間の相対方位や観察像の正確な理解に役立ちます。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石中の結晶粒について、EBSD法で得た結晶方位の情報から STEM像をシミュレーションし、実際の高分解能HAADF-STEM像と比較した事例を紹介します。

ペロブスカイト太陽電池は軽くて柔軟性がある等の観点から次世代の太陽電池として期待されています。有機構造やハロゲン、金属等を含んでおり、これらの組成や結晶性によって様々に性質が変化することがペロブスカイト太陽電池の研究開発の課題の一つとされています。今回は、高温高湿試験を行ったペロブスカイト太陽電池の正常部と異常部で、フォトルミネッセンス（PL）測定装置および蛍光寿命測定装置により発光スペクトルや発光寿命の違いを評価しました。

弊団では、半導体中キャリアの直流電圧依存性評価を承っております。 SMM計測は半導体中のキャリア濃度の大小をマッピングできる手法です。 また、SMM計測時に試料に直流電圧を印加してキャリアを誘起させながら 計測することが可能です。 各測定点で印加電圧条件ごとにSMM信号を取得しながらマッピング測定を行い、 データキューブを構築。全データ収集後に印加電圧条件ごとにSMM信号を 解析することで、印加電圧に対するキャリアの振る舞いを可視化することができます。 【測定法・加工法】 ■[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

弊団では、量子化学計算によるイオン液体の熱分解反応の解析を行って おります。 イオン液体は高温下で長時間使用されることが多いため、熱分解などの 反応性を知ることは不可欠です。 量子化学計算によりイオン液体の熱分解反応の起こりやすさを評価した 事例を紹介します。 【測定法・加工法】 ■計算科学・AI・データ解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

弊団では、耐候性試験による製品劣化調査を承っております。 サンシャインウェザーメーターは太陽光・温度・湿度などを人工的に 再現することができ、自転車用ライトについて耐候性試験規格を行い、 経時変化を調べました。 元々は黒色であるライトが変色していく様子について、定量的な議論を行う ために(JIS D 0205)を参照し色差及び光沢度の評価を行った事例を紹介します。 【測定法・加工法】 ■その他 ■耐候性試験 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

弊団では、第一原理計算によるワイドギャップ半導体 窒化ガリウム(GaN) における欠陥準位の解析を行っております。 ワイドギャップ半導体である窒化ガリウム(GaN)は主にパワーデバイスの 分野で用いられ、近年では急速充電器や5G通信基地局用途としての需要が 高まっています。 ここでは第一原理計算を用いてGaN中の窒素欠損(VN)が形成する 欠陥準位の解析を行った事例を紹介します。 【測定法・加工法】 ■[PL]フォトルミネッセンス法 ■計算科学・AI・データ解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

このたび、当ホームページを全面リニューアルいたしました。 今回のリニューアルでは、皆さまにとってより見やすく、快適にご利用いただけるよう、デザインおよび構成を一新し、情報の充実を図りました。 ◆リニューアルのポイント ・目的情報へのアクセス性向上 全ページで共通のナビゲーションを見直し、分かりやすいメニュー構成に改善しました。必要な情報に直感的にたどり着ける構造となっています。 ・あらゆる環境で快適に閲覧可能 PCに加え、スマートフォンやタブレットなど、さまざまな閲覧環境に対応いたしました。場所や端末を問わず、快適にご利用いただけます。 ・視認性を高めたビジュアルデザインへと改善 サイト全体の配色やレイアウトを見直し、より分かりやすく、洗練されたデザインへと刷新いたしました。 ▼こちらからご覧いただけます https://www.mst.or.jp/ ぜひ一度ご確認いただけますと幸いです。 今後もさらなる内容の充実に努めてまいりますので、引き続きご利用賜りますようお願い申し上げます。

■解決まで伴走する一貫体制と、多様な解析アプローチ 課題のヒアリングから報告まで一貫して対応し、対話を通じて最適な解決策を共に導きます。100種類以上の分析手法とAI解析を駆使したオーダーメイドの提案力で、あらゆる領域の課題を網羅し、柔軟な対応と確かな実績で「MSTなら安心」という信頼にお応えします。 ■技術力・経験の豊富さ 半導体など既存分野での高度な分析から、新規分野のオーダーメイド分析まで幅広く対応しています。国内初のFIB-TEM事業化、SSDP-SIMSなど独自技術の実績もあります。 ■公正性・信頼性 1984年、半導体が世界を席巻した時代から、ものづくりの最前線と共に歩んできました。公正中立な立場を貫き、ISO 9001に基づく品質管理で確かな信頼を築いています。 ■AI解析による最適な課題解決 目的や課題に沿った解決策を、機器分析・AI解析・シミュレーションを通じて提案します。お客様の保有データを最大限に活用し、オーダーメイドのAIモデルを設計・構築することで。ニーズに即した成果創出を目指します。 分析・解析に関するご相談など、まずはお気軽にお問い合わせください。