Agilent i1000D診断テストセット（DTS）は、バウンダリ・スキャン、オンボード・プログラミング、汎用デジタル・テスト機能をデスクトップ・サイズで提供し、柔軟で戦略的なテストの実行を容易にします。 【特徴】 ○オフラインの研究開発での検証で使用できる ○診断ファンクション・テスト用のスタンドアロンのi1000Dシステムと 　同じハードウェア・エンジンを使用 ○64個の独立したデジタル・ドライバとレシーバを基本構成としている ○各チャネルは異なる用途に割り当てることができる 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• 基板検査装置

Agilent Medalist i3070は、世界で数多くお使い頂いている3070シリーズの高いフレキシビリティと、i5000の先進のグラフィカル・ユーザ・インタフェースを兼ね備えた最新のインサーキット・テスト・システムです。 テスト・スループットと、テスト・カバレッジの向上を実現する新たな機能を搭載し、基板の検査の更なる効率化を実現できます。 【特徴】 ○GUIによる容易な操作性 ○高いテスト・スループット ○自由度の高いシステム・アーキテクチャ ○既存システムとの互換性 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• 基板検査装置

ViTrox V810は3次元に対応した、X線自動検査装置として新たに開発されたマシーンです。 両面実装パネルの検査が可能で、広範囲の欠陥検出機能及び高速検査機能を有し、誤検出率が極めて低い画期的な検査装置です。 【特徴】 ○オートフォーカスアルゴリズムを使用してBGAパッケージの断面を特定 ○様々な高さからのスライス画像を100枚以上を取り込むことが可能 ○複数のジョイントを隣接する機能と高度な数学モデリング方式を採用 ○先端アルゴリズムとシステム設計によりHIP上の測定が可能 ○検査結果と画像データはオフラインコンピュータへ転送可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• X線検査装置
• 基板検査装置

Agilent Medalist i1000D インサーキット･テスタ（ICT）を使用すれば、デジタル・デバイスのテストを低価格で簡単に行え、画期的なデジタル・テストが実現します。 【特徴】 ○Test DeveloperのGUIは使いやすく、経験の浅いユーザでも、 　ほんの数日でフィクスチャやプログラムを作成できる ○グラフィカル・インタフェースでは、デジタル･デバッグが簡単 ○VTEP v2.0 Poweredテスト・スイートを付属 ○バウンダリ・スキャン・テスト機能を完備 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• 基板検査装置

「Agilent Medalist i1000D」は、次世代に対応した業界最小クラスの高性能PCB製造ライン向けインサーキット・テスタです。 さらに、バウンダリ・スキャン・テスト、オンボード・プログラミング、ライブラリ・ベースのデジタル・テスト、パーピン・プログラマブル・デジタル・ドライバ／レシーバなど、真のデジタル・テスト・カバレージを提供します。 【特徴】 ○業界最高水準のテストカバレッジを実現可能 ○低コスト治具で柔軟なデジタルテスト ○アジレントの最新技術を搭載 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• その他検査機器・装置
• 基板検査装置

ワンショット画像チェッカー（TASCAL）Focus6500IAは、予め登録しておいた参照画像と被検査基板の検査画像を比較検査（パターンマッチング）を行う装置です。 1400万画素のFAカメラ搭載により、長寿命です。 検査内容は、部品の有無、極性、部品ズレ、色違い、半田有無、異物検査、カラーコード確認・色比較（オプション）、文字確認・長さ面積測定（オプション）、部品ズレ量計測（オプション）となっています。 【機能】 ○画像クイックコンベア機能 ○個別検査項目設定機能 ○レポート作成機能 ○検査画像保存機能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• 外観検査装置
• 基板検査装置

協立テストシステムは、実装基板製造工程の検査機器を各種取り揃えております。 各工程毎のベースマシンがございますので、お客様の生産ラインにピッタリ合わせたご提案が可能です。 【掲載製品】 ○インサーキットテスタ ○FX-Builder ○ファンクションモジュール ○ファンクションテスタ ○X線自動検査装置 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• X線検査装置
• 外観検査装置
• 基板検査装置

今や最先端の情報機器から電装製品・家庭電化製品に至るまで、あらゆる電子・電気機器にプリント基板が使われておりますが、それらプリント基板のテストに協立テストシステムの種々テスターが使われております。 今後もプリント基板製作技術の更なる進歩により、必要となるテスターも変化・進歩してまいりますが、私どもは常にご使用になるお客様のニーズに応え、新技術を駆使した新製品の開発、ご提供を続けてまいります。 また、国内はもとより世界を網羅した充実したサポートと、万全な保全アフターサービス体制を展開しております。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• 半導体検査/試験装置
• 基板検査装置
• 外観検査装置

定電圧印加電流測定と定電流印加電圧測定との2種類の測定が可能です。 印加電圧、印加電流を任意に設定する事が可能です。 128Pinのスイッチングカードを増設する事で最大2,048Pinまで拡張できます。

• その他工作機械

協立テストシステムは、実装基板製造工程の検査機器を各種取り揃えております。各工程毎のベースマシンがございますので、お客様の生産ラインにピッタリ合わせたご提案が可能です。

• その他工作機械

協立テストシステムは、実装基板製造工程の検査機器を各種取り揃えております。各工程毎のベースマシンがございますので、お客様の生産ラインにピッタリ合わせたご提案が可能です。

• その他工作機械

コンパクトサイズのインサーキットテスター 標準256ピン 最大1024ピンまで増設可能 2つの動作モード

• その他工作機械

デバッグ支援機能 今までライン投入後のデバッグに費やした時間は計り知れないと思います。 Focus-250ではデバッグをより容易に、また、より正確な測定を行う為に、自動ガーディングピン設定などの様々なデバッグ支援機能があります。 検査速度の向上 パソコンから測定系統を直接制御する為信号処理に必要な時間を削除する事ができました。 また、ショート･オープンテスト時に一括ピン選択処理が大幅に改善され、トータルで当社比1.5倍の検査速度向上になりました。

• その他工作機械

デバッグ支援機能 今までライン投入後のデバッグに費やした時間は計り知れないと思います。 Focus-2000ではデバッグをより容易に、また、より正確な測定を行う為に、自動ガーディングピン設定などの様々なデバッグ支援機能があります。 検査速度の向上 パソコンから測定系統を直接制御する為信号処理に必要な時間を削除する事ができました。 また、ショート･オープンテスト時に一括ピン選択処理が大幅に改善され、トータルで当社比1.5倍の検査速度向上になりました。

• その他工作機械