【仕様】 ○スキャンエリア：100×100μm（クローズドループ） ○サンプルステージ ・モータ駆動：最大移動幅　X＝60mm、Y=15mm、Z=6mm （AFMヘッド側　X=30mm、Y=3mm、Z=4mm） ○ノイズレベル：＜0.2nm　RMS（1.5 - 150Hz） ○光学顕微鏡 ・水平分解能0.8μｍ、視野角0.7mm ・長作動距離対物レンズ（WD＝20mm） ○CCDカメラ：5Mpix　ハイスピード・デジタルイメージング ○励起波長 ・可視、赤外およびテラヘルツまで（400nm～200µm） ※専用ブロードバンド光源により中赤外領域のナノスペクトロスコピー可能 ●詳しくはお問い合わせください。

【仕様】 ■ラインアップ：MWBaby、MWBaby+、MW3 ■描画分解能 ・MWBaby:1μm ・MWBaby+：1μm and 5μm ・MW3：0.6μm、1μm、2μm、5μm ■描画範囲 ・MWBaby:149×149mm ・MWBaby+:149×149mm ・MW3:195×195mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【カタログ掲載ラインアップ】 ・CoreAFM ・NaioAFM/STM ・FlexAFM(FlexBio/FPM/ANA) ・LensAFM ・Custom solution ・AFSEM ・PRS ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

【仕様】 ◎スキャン範囲（分解能）：70μm(1.0 nm) ◎Zノイズレベル（Static/Dynamicモード使用時）: 　typ.0.4nm(max.0.8nm)/typ.0.3nm(max.0.8nm) ◎搭載可能サンプルサイズ：12mm角以内/高さ3.5mmまで ◎サンプルステージ可動範囲：面内12mm ◎装置サイズ(縦横高さ)：204×204×160mm ◎重量：6.5kg ◎電力：100～240VAC(30W) 【用途】 大学や専門学校におけるナノテクノロジー教育や、研究開発または品質管理の現場での表面形状計測

【Spike-Guard機能】 ■IsoStage300が大きな振動を検知したときに、それをソフトウェアと 　AFMコントローラに伝え、そのラインだけを測り直してくれる機能 【こんな経験がある方におすすめ】 ■たった1ラインのスパイクのためにイメージ全体を測り直すはめになった ■時間がかかるので測定ラインを少なくせざるを得なくなった ■泣く泣くスパイクがある画像のまま提出した ■周りのピクセルで平均化して目立たなくした　等　 ※詳しくはHPをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【特長】 ◆大小・異素材が混在したような多分散サンプルでも、高分解能で正確な個数濃度分布を得ることができます。 ◆測定に際し、物質の屈折率など物性情報が不要で、分かりやすい操作方法で測定が可能です。 ◆ナノ粒子のブラウン運動の様子を観察、動画保存も可能です。 ◆粒子の分散状態や凝集の様子など解析結果の裏付けができます。

【特長】 ◆大小・異素材が混在したような多分散サンプルでも、高分解能で正確な個数濃度分布を得ることができます。 ◆リニューアルしたソフトウエア『NS Xproler』は使いやすさを向上させつつ、豊富なユーザアシスト機能を搭載し、撮影準備～測定にかかる時間が短縮！ ◆測定に際し、物質の屈折率など物性情報が不要！分かりやすい操作方法で測定が可能です。 ◆ナノ粒子のブラウン運動の様子を観察、動画保存も可能です。 ◆粒子の分散状態や凝集の様子など解析結果の裏付けができます。

【表面検査】 ◆原子間力走査型電子顕微鏡（AFM&SEM in situ測定） by Quantum Design North America ◇原子間力顕微鏡（AFM） by Nanosurf ◆散乱型近接場光赤外顕微鏡（Nano-FTIR） by attocube ◇ワンショット3D測定装置 by Lyncee tec 【半導体プロセス向け】 ◆マスクレス露光装置 by DMO ◇レジスト by Allresist 【精密位置制御】 ◆電動リニアステージ・ロータリステージ・電動リニアアクチュエータ等 by ZABER