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株式会社JMT

住所埼玉県日高市猿田289-1
電話042-985-8855
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最終更新日:2025/06/18
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テストソケット テストソケット
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LID Less Socket

光学テストが必要なイメージセンサーなどの測定に、LIDを必要としないソケット構造のご提案が可能です。

イメージセンサーなどの測定において、光を取り入れた検証が必須となりますが、通常のソケット構造では加圧LIDがある事で光が入りにくい状況があります。 この課題に対しPCRソケットは真空で裏面側からパッケージを引き付ける事でコンタクターを歪ませ導通させるLID LESS ソケットを開発致しました。 加圧LIDが無い事で、光の取り入れが自由になりソケット設計における制約を無くします。 また、LIDが無い事でソケットの簡素化・低価格化も実現でき、Imageセンサーの測定用途以外でもコスト削減に向けた取り組みとしても実現可能です。 ただし、大気圧で引き圧がきまる状況である為、パッケージのサイズ・Pin数により対応不可な案件もあります。 詳細仕様については、案件毎に個別設計を行いますので、弊社窓口にお気軽にお問い合わせください。

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システムレベルテスト(SLT)向けソケット

短距離接続の利点を生かし、実装状態に近い状態の特性検証が可能です。

PCRソケットはシートコンタクトである為、短距離接続でかつ対象物とは面(エリア)で接触します。 接続状態は実装時の状態に近く、特性ロスが小さい事でより実際の機器に近い状態で安定した測定を実現します。 この事から、設計検証・システムレベルテスト・不良解析など詳細な特性データの検証が必要となる用途で適用可能です。 形状も自由に設計可能で、ソケットの設置が困難な実製品上での測定も可能です。(加圧機構は別途検討が必要) 詳細仕様については、案件毎に個別設計を行いますので、弊社窓口にお気軽にお問い合わせください。

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短距離接続コネクター

短距離接続の利点を生かし、実装しか解の無かった接続をソケット方式に置き換えます。

これまで半田実装で接続を行っていた基板の上下接続をソケット方式に置き換えます。 これにより挿抜が可能で、メンテナンス時の付け替えが簡易となります。 また、半田実装を行わない事から、熱による基板へのダメージもなく基板の延命が可能となります。 接続長も半田実装と変わらない程度であり、特性Lossの懸念もありません。 手作業による半田実装のバラつきを吸収能のあるコンタクトシートで改善します。 詳細仕様については、案件毎に個別設計を行いますので、弊社窓口にお気軽にお問い合わせください。

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IC測定基板ダメージ保護tool

プローブPinソケットの基板Padダメージから測定ボードを保護します。高価な測定ボードをメンテナンス不要で運用可能とします。

プローブPinソケットを適用されていると、測定ボードの端子にダメージが発生し、Padのリペアが必要となってくる状況があります。 Padのリペアには、費用と時間が必要となり、また予備基板を準備しなければならなくなるケースがあります。 JMTの基板ダメージ保護toolを適用する事で、大切な測定ボードのダメージを無くし、リペア作業による費用と時間を無くします。 また、ソケット基板と測定ボードの接点には分散型PCRを適用し、安定したコンタクトをご提案可能です。 基板ダメージ保護tool:プローブPinとの接続をソケット基板(上下導通基板)で受け、このソケット基板を交換する事で測定boardへのダメージを無くします。 *基板ダメージ保護toolは厚み0.3mm程度であり、大きな特性Lossなくご使用可能です。 詳細仕様については、案件毎に個別設計を行いますので、弊社窓口にお気軽にお問い合わせください。

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高周波IC測定用PCRシート(分散型PCR)

分散型PCRは面内すべてを接点とする事が可能で位置決めを必要としないシートタイプコンタクターです。

薄いシリコーンゴム内部に導電粒子をランダムに配合させた導電シートです。加圧(歪ませる)事でシート内の導電粒子が接触し上下方向に導通します。 加圧された(歪みを受けた)部位が導通する為、面内すべてが電極となり、位置決めを行うことなく使用可能です。 また、ProbePinソケットとの組みあわせにより、測定物へのPin傷の低減も期待できます。 ただし、使用環境は常温のみとなり、また接続部位により抵抗値の違いがある事ご理解を頂きます様お願いします。 詳細内容については、弊社窓口にお気軽にお問い合わせください。

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特性検証用ソケット

PCRソケットは短距離接続の利点を生かし、詳細な特性データ検証を必要とする様々な用途で適用可能です。

PCRソケットはシートコンタクトである為、短距離接続でかつ対象物とは面(エリア)で接触します。 接続状態は実装時の状態に近く、特性ロスが小さい事でより実際の機器に近い状態で安定した測定を実現します。 この事から、設計検証・システムレベルテスト・不良解析など詳細な特性データの検証が必要となる用途で適用可能です。 形状も自由に設計可能で、ソケットの設置が困難な実製品上での測定も可能です。(加圧機構は別途検討が必要) 詳細仕様については、案件毎に個別設計を行いますので、弊社窓口にお気軽にお問い合わせください。

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高周波測定テストソケット

5G・5G-Advanced・6Gと通信世代が進む中で高速化需要における高周波測定の課題をPCRソケットが解消します。

様々な機器がインターネットにつながり高速通信が必要となってきています。 また、先進運転支援システム(ADSA)も一般化する時代も近づいており、まずます半導体は高速化の要求が強まっています。 このハイスペックな半導体のテストは課題も多くより確実なテスト方法が求められます。 PCRソケットは電極径を自由に設計できる事と短距離接続の利点を生かし、この課題を解消して安定した測定を実現します。 またミリ波の測定要求についても問題なくご提案可能です。 詳細仕様については、案件毎に個別設計を行いますので、弊社窓口にお気軽にお問い合わせください。

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アドバンストパッケージ向けソケット

様々なchipを融合させた高性能・多Pin Packageの測定を安価でご提案可能です。

AIやビッグデータを取り扱うアドバンスドパッケージはチップレットによりさらに高性能化し需要が伸びていく事が想定されています。 これらの高性能アドバンスドパッケージの測定には、高速動作かつ多Pinの安定コンタクトが求められます。 これらを両立する唯一の方式がPCRとなります。 PCRソケットはシートコンタクトの利点を生かし、短距離接続で安定コンタクトを実現しかつ多Pinでのコストmeritをご提案致します。 大型パッケージで問題となるそりへ対応は、PCR側で中央部と外周部でコンタクト位置を変える事で対応しストローク量不足の不安を解消します。 詳細仕様については、案件毎に個別設計を行いますので、弊社窓口にお気軽にお問い合わせください。(10,000Pinを超えるPackageも対応可能です。)

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ICテストソケット

簡易構造で装着可能なシートタイプコンタクターを用いたテストソケットで微細Pitch~大型PackageまでICテストが可能です。

シートタイプコンタクター(PCR)を用いた高性能テストソケットです。 微細pitchの小型ICから大判サイズとなるアドバンストパッケージまで様々な用途でのご提案が可能です。 PCRを用いる事で簡易な構造となりメンテナンスも容易となります。 ソケットの加圧構造は、クラムシェル型・両側ラッチ・ネジ固定式までお客様のご要求に合わせカスタムで対応可能です。 1台からのご要求にも対応し、短納期(ご依頼後約3週間程度)でご提供致します。 詳細仕様については、案件毎に個別設計を行いますので、弊社窓口にお気軽にお問い合わせください。

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半導体パッケージテスト用コンタクター PCR

高度な測定を安価で実現するシートタイプコンタクターです。測定対象物及び測定ボードへのダメージもなく安定した接続が可能です。

PCRは、特殊な方法でシートの厚さ方向に導電粒子を配向させた加圧導電性コンタクトシートです。 導電粒子が配列された電極部を加圧(圧力を加える)することで導電粒子が互いに接触し、複数の通電経路が形成される事で安定的な電気特性を維持します。 主材料をシリコーンゴムとしている為、コンタクト時にICパッケージ及び測定ボードにダメージがを与える事無く運用可能です。 また、PCRは面接触である為、位置ズレ許容も大きくとる事が可能です。 短距離接続の利点を生かし、高周波要求のハイエンドな製品の測定に最適となります。 PCRテストソケットは、カスタムでの設計が可能である為、お客様のご要求に合わせた形状・構造をご提案可能です。

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テストソリューション『PCR』

ソフトコンタクトで半田ボールや測定基板にダメージを与えないテストソリューション!

『PCR』は、今後の5G、IoT時代に向けたハイスペックなパッケージに最適なテストソリューションです。低インダクタンス、低抵抗及び低接触特性を必要とする高周波検査に優れた性能を発揮します。また、シンプルな構造により、メンテナンスが容易で、ソケット交換時の生産ラインの停止時間が短縮でき生産性向上を可能とします。 【特長】 ■測定基板などにダメージを与えない ■優れた価格優位性 ■メンテナンスが用意 ■生産性向上が可能 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい

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