理化電子の製品・サービス一覧

『RI-010HA-05-PDH』は、ウェハー検査用のファインピッチプローブです。 0.15mmピッチ対応で垂直型検査に適しています。 プランジャー材質においても複数対応が可能となっております。 この他に、高周波対応用や高温対応用、ケルビン対応用などの 特殊プローブを多数取り扱っています。 【材質】 ■A Plunger：Pd Alloy ■Barrel：Ni / Inner Au ■Spring：SWP / Au-Plated ■B Plunger：SK / Au-Plated ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• プローブ

ウエハーレベルでボールが実装された状態のW-CSP（WLCSP）の検査を行うヘッド　プローブーカード 【特徴】 ○（プローブピンも含めて）ユーザーフレンドリーなカスタマイズ対応 ○高いメンテナンス性 ○プローブピンで集積した高耐久性能 　 詳細は、お問い合わせ下さい。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体
• プリント基板

日に日に進化を続けるハイエンドデバイスの高速化と微細化。 一方それに対応すべくテスティング技術もまた、進化をしています。 理化電子社は、ハイエンドデバイス・テスティングのイノベーターとして、先端の技術と熱い心をもって、お手伝いをさせていただきます。 IC ソケット及び各種プローブは、九州事業所・熊本工場にて、基礎研究から設計、製作、検査にいたるまで、すべてを一貫したラインにて行っております。一元化することにより、短納期・低価格はもちろん、お客様のニーズやテーマに即したトータルソリューションを実現しました。 IC ソケット周辺の各種ボードの設計・製作も承ります。 詳細は、お問い合わせ下さい。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体
• ソケット

コンタクトプローブで数十年培った技術を半導体検査用に集約！ ショートプローブ 【特徴】 ○ファインピッチ化、高速化する検査環境にいち早く対応し ○世界中のユーザから高い評価を受けている高性能ショートプローブ ○カスタマイズが容易 ○主な種類 ・1.0mmピッチ用ショートプローブ ・0.8mmピッチ用ショートプローブ ・0.65mmピッチ用ショートプローブ ・0.5mmピッチ用ショートプローブ ・0.4mmピッチ用ショートプローブ ・超短尺ショートプローブ ※上記以外もおつくりしております。　詳しくはお問い合せください。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体
• プリント基板

アメリカ、Paricon社製の異方性導電シートPariPoser 【特徴】 ○電気特性 ・高周波特性・・・40GHzまで対応、セルフインダクタンス0.094nH ・挿入損・・・0.5dB未満＠25GHz、1dB未満＠36GHz ・抵抗・・・平均抵抗値20mΩ ○物理特性 ・使用温度：-40℃〜160℃ ・耐久性・・・500,000回以上（1mmピッチ用＠対金パッド）　など極めて高い性能を実現しました。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体
• その他

当カタログは、理化電子が取り扱うプローブなどを掲載しています。 半導体パッケージの検査を主目的に設計された「短尺プローブ」をはじめ、 低抵抗コンタクトで短い導通長を実現する「ICソケット」などをラインアップ。 用途に合わせてお選びいただけます。 【掲載製品】 ■ショートプローブ ■ICソケット ■WLCSP用プローブガード ■テストフィクスチャー ■RDKボンディングツール ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 半導体検査/試験装置
• その他半導体
• プリント基板

『RI-020ZC-01』は、ケルビン測定用のケルビンプローブです。 馬蹄型の先端形状が、より確実な接触を行います。 0.4mmピッチマトリックスのBGAパッケージ及び0.3mmピッチの QFPパッケージの測定に適しています。 また、4点型タイプの「RI-020ZC-02」も取り扱っています。 【材質】 ■A Plunger：SK / Au-Plated ■Barrel：PB / Au Lined ■Spring：SWP / Au-Plated ■B Plunger：SK / Au-Plated ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• プローブ

『RI-028LA-03-A2』は、高周波特性に優れたプローブです。 41.5GHzの周波数特性を持っています。 また、プランジャー材質においても複数対応が可能。 ラウンドコニカルタイプの「RI-028IA-01-A2」もご用意しています。 【材質】 ■A Plunger：BeCu / Au-Plated ■Spring：SWP / Au-Plated ■B Plunger：BeCu / Au-Plated ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• プローブ

『RI-030II-28-WKG』は、高温特性に優れたプローブです。 200℃までの高温環境に対応しています。 この他にも、信頼性試験に於けるプローブの高耐熱温度要求に お応えする為、現在175℃対応のHOTPINをラインアップしています。 【材質】 ■A Plunger：BeCu / K3-Gold ■Barrel：Ni / Inner Au ■Spring：SUS / Au-Plated ■B Plunger：BeCu / K3-Gold ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• プローブ

『RI-030LI-33-A2』は、0.4mmピッチ、0.5mmピッチに適した 標準設計プローブです。 汎用性があり様々なタイプのソケットにも使用可能。 また、先端形状を用途に合わせて3種類よりお選びいただけます 【材質】 ■A Plunger：BeCu / Au-Plated ■Barrel：PB / Au-Plated ■Spring：SWP / Au-Plated ■B Plunger：BeCu / Au-Plated ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• プローブ

『RI-035ZI-01-WKG』は、ケルビン測定用のケルビンプローブです。 馬蹄型の先端形状が、より確実な接触を行います。 また、当製品は170℃までの高温環境に対応しており、 2AのCCC特性を有しています。 この他に、4点型タイプの「RI-035ZI-02-WKG」も取り扱っています。 【材質】 ■A Plunger：SK / K3 Gold ■Barrel：NS / Au-Plated ■Spring：SUS / Au-Plated ■B Plunger：SK / K3 Gold ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• プローブ

『RI-A90HA-01-PDH』は、ウェハー検査用のファインピッチプローブです。 0.13mmピッチ対応で垂直型検査に適しています。 この他に、高周波対応用や高温対応用、ケルビン対応用などの 特殊プローブを多数取り扱っています。 【材質】 ■A Plunger：Pd Alloy ■Barrel：Ni / Inner Au ■Spring：SWP / Au-Plated ■B Plunger：BeCu / Au-Plated ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• プローブ

理化電子株式会社では『Test Fixture』を取り扱っております。 プレス機構を「ハンドプレス」と「エアプレス」から選択可能。 もちろんお手元のプレス機構に合わせてヘッド部分を製作することも可能です。 液晶セルやモジュール、TAB、COFといった周辺部品や基板を取り巻く 検査環境は日に日に変化していますが、当社はお客様の検査装置、 アプリケーションに合わせて好適な検査治具をご提案、設計から製作までを 行います。 【特長】 ■プレス機構を「ハンドプレス」と「エアプレス」から選択できる ■お手元のプレス機構に合わせてヘッド部分を製作することもできる ■スプリングプローブピッチ直線配列200μm以上でピン配置が可能 ■ソリッドピンを使用することで、プローブピッチ直線配列100μmの 　ピン配置ができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他

理化電子株式会社では『RDK Bonding Tools』を取り扱っております。 チップをピックアップする際に用いる「ニードル(突き上げピン)」を はじめ、ペーストの盛り上がりや接着不良といったトラブルを先端形状にて 改善できる「転写ピン」や「ヒーターブロック」などを各種ご用意。 ご要望に合わせてお選びいただけます。 【取扱製品(一部)】 ■超硬製ダイコレット ■ピックアップツール ■コレットホルダー ■LCD関連各種ノズル ■タイバーカットパンチ　など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他作業工具