試験システム - 企業ランキング(全43社)
更新日： 集計期間:2025年07月09日〜2025年08月05日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
企業情報を表示
| 会社名 | 代表製品 | ||
|---|---|---|---|
| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
簡易放射イミュニティ試験システム
応相談 |
● 必要最低限の設備で試験システムが構築 ● 試験は試験距離を選択し、試験レベルを設定するだけで実施 ● 近接アンテナはTEMホーンアンテナや広帯域スリーブアンテナを使用 | 〇簡易でも低コストで評価が可能 〇低価格でも十分な試験システム | |
| ● IEC 62132-4（DPI法）に準拠した試験が行えます。 ● IEC 62132-1のIC パフォーマンスクライテリアに準拠した判定（Class A/C/D1/D2/E）が自動で行えます。 ● 最大10個の判定条件（自動測定判定8個＋マスクテスト判定＋シリアルデコード判定）を自由に組み合わせて、ICの誤動作判定ができます。 ● 誤動作発生時のICリセット等のために、複数台のDC電源を制御して電源をON/OFFできます。 ● EUT(IC)に合わせて電圧値やリセット時間などを設定できます。 ● マルチスイープ機能で試験時間を大幅に短縮できます。 ● TEM-Cell法（IEC 62132-2）、 ICストリップライン法（IEC 62132-8）の試験もできます。 | 〇 別の半導体（IC）へ変更する際の判定基準を確立させ、 PCN（製品変更通知）時における試験の工数削減 〇 完成品に対しての試験の前に、誤動作の主要因となりうる半導体（IC） を予め評価し、フロントローディングによるEMC対策の工数削減 | ||
BCI 試験システム
応相談 |
【仕様】 ■測定周波数範囲：1MHz～2GHz ■試験レベル：200mA ■変調方式：AM 1kHz 80%, PM t on 577μsec., period 4600μsec ■準拠規格名 ・SAE J1113/4，ISO 11452-4，ISO 11451-4， JASO D012，JASO D011 その他各社メーカー規格 | ||
|
---
--- |
--- | --- | |
株式会社ノイズ研究所（NoiseKen）
-
- 代表製品
-
簡易放射イミュニティ試験システム
- 概要
- ● 必要最低限の設備で試験システムが構築 ● 試験は試験距離を選択し、試験レベルを設定するだけで実施 ● 近接アンテナはTEMホーンアンテナや広帯域スリーブアンテナを使用
- 用途/実績例
- 〇簡易でも低コストで評価が可能 〇低価格でも十分な試験システム
DPIイミュニティ試験システム（半導体向けEMC試験）
- 概要
- ● IEC 62132-4（DPI法）に準拠した試験が行えます。 ● IEC 62132-1のIC パフォーマンスクライテリアに準拠した判定（Class A/C/D1/D2/E）が自動で行えます。 ● 最大10個の判定条件（自動測定判定8個＋マスクテスト判定＋シリアルデコード判定）を自由に組み合わせて、ICの誤動作判定ができます。 ● 誤動作発生時のICリセット等のために、複数台のDC電源を制御して電源をON/OFFできます。 ● EUT(IC)に合わせて電圧値やリセット時間などを設定できます。 ● マルチスイープ機能で試験時間を大幅に短縮できます。 ● TEM-Cell法（IEC 62132-2）、 ICストリップライン法（IEC 62132-8）の試験もできます。
- 用途/実績例
- 〇 別の半導体（IC）へ変更する際の判定基準を確立させ、 PCN（製品変更通知）時における試験の工数削減 〇 完成品に対しての試験の前に、誤動作の主要因となりうる半導体（IC） を予め評価し、フロントローディングによるEMC対策の工数削減
BCI 試験システム
- 概要
- 【仕様】 ■測定周波数範囲：1MHz～2GHz ■試験レベル：200mA ■変調方式：AM 1kHz 80%, PM t on 577μsec., period 4600μsec ■準拠規格名 ・SAE J1113/4，ISO 11452-4，ISO 11451-4， JASO D012，JASO D011 その他各社メーカー規格
- 用途/実績例
-
株式会社ノイズ研究所（NoiseKen）
すべてを閲覧するには会員登録（無料）が必要です。
すでに会員の方はこちら
