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分析 - 企業ランキング(全45社)

更新日: 集計期間:2025年11月12日〜2025年12月09日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

会社名 代表製品
製品画像・製品名・価格帯 概要 用途/実績例
測定法:XPS 製品分野:酸化物半導体、電子部品 分析目的:化学結合状態評価・電子状態評価 酸化物半導体、電子部品の分析です。
詳しいデータはカタログをご覧ください 形状評価・組成分布評価
発光を生じさせるための励起源としてエネルギー可変、高強度などの特長を持った放射光を用います。 ・希薄磁性半導体Ga1-xCrxN中のギャップ内準位評価 ・HOPG(高配向性熱分解グラファイト)中の微量ホウ素の局所構造解析 ・酸化物半導体中の微量軽元素の化学結合状態評価 ・各種薄膜試料のバンド構造評価(XASとの複合解析)
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  1. 代表製品
    【分析事例】XPSによるSn表面の状態評価【分析事例】XPSによるSn表面の状態評価
    概要
    測定法:XPS 製品分野:酸化物半導体、電子部品 分析目的:化学結合状態評価・電子状態評価
    用途/実績例
    酸化物半導体、電子部品の分析です。
    HAADF-STEM像とはHAADF-STEM像とは
    概要
    詳しいデータはカタログをご覧ください
    用途/実績例
    形状評価・組成分布評価
    [SXES]軟X線発光分光法[SXES]軟X線発光分光法
    概要
    発光を生じさせるための励起源としてエネルギー可変、高強度などの特長を持った放射光を用います。
    用途/実績例
    ・希薄磁性半導体Ga1-xCrxN中のギャップ内準位評価 ・HOPG(高配向性熱分解グラファイト)中の微量ホウ素の局所構造解析 ・酸化物半導体中の微量軽元素の化学結合状態評価 ・各種薄膜試料のバンド構造評価(XASとの複合解析)