分析 - 企業ランキング(全45社)
更新日: 集計期間:2025年11月12日〜2025年12月09日
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企業情報を表示
| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| 測定法:XPS 製品分野:酸化物半導体、電子部品 分析目的:化学結合状態評価・電子状態評価 | 酸化物半導体、電子部品の分析です。 | ||
HAADF-STEM像とは
応相談 |
詳しいデータはカタログをご覧ください | 形状評価・組成分布評価 | |
[SXES]軟X線発光分光法
応相談 |
発光を生じさせるための励起源としてエネルギー可変、高強度などの特長を持った放射光を用います。 | ・希薄磁性半導体Ga1-xCrxN中のギャップ内準位評価 ・HOPG(高配向性熱分解グラファイト)中の微量ホウ素の局所構造解析 ・酸化物半導体中の微量軽元素の化学結合状態評価 ・各種薄膜試料のバンド構造評価(XASとの複合解析) | |
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- 代表製品
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【分析事例】XPSによるSn表面の状態評価
- 概要
- 測定法:XPS 製品分野:酸化物半導体、電子部品 分析目的:化学結合状態評価・電子状態評価
- 用途/実績例
- 酸化物半導体、電子部品の分析です。
HAADF-STEM像とは
- 概要
- 詳しいデータはカタログをご覧ください
- 用途/実績例
- 形状評価・組成分布評価
[SXES]軟X線発光分光法
- 概要
- 発光を生じさせるための励起源としてエネルギー可変、高強度などの特長を持った放射光を用います。
- 用途/実績例
- ・希薄磁性半導体Ga1-xCrxN中のギャップ内準位評価 ・HOPG(高配向性熱分解グラファイト)中の微量ホウ素の局所構造解析 ・酸化物半導体中の微量軽元素の化学結合状態評価 ・各種薄膜試料のバンド構造評価(XASとの複合解析)
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一般財団法人材料科学技術振興財団 MST