解析 - 企業ランキング(全45社)
更新日: 集計期間:2026年06月03日〜2026年06月30日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
企業情報を表示
| 会社名 | 代表製品 | ||
|---|---|---|---|
| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| 【その他のPWT2400A装置概要】 ■JESD51-14に準拠した測定法によるTj測定 ■試験中に自動で過渡熱抵抗測定の実施 ■TOパッケージ用の治具を標準で装備 | |||
パワー半導体の解析サービス
応相談 |
【故障箇所特定から拡散層評価や結晶構造などの物理解析まで対応】 ■裏面発光/ OBIRCH解析による故障箇所特定 ■故障箇所への高精度位置特定、FIB加工 ■不良箇所のFIB/LV-SEM観察、EBIC解析による拡散層形状評価 ■TEM観察による結晶構造観察、元素分析 ... | ||
|
---
--- |
--- | --- | |
-
- 代表製品
-
パワーサイクル試験による接合部の信頼性評価と故障解析
- 概要
- 【その他のPWT2400A装置概要】 ■JESD51-14に準拠した測定法によるTj測定 ■試験中に自動で過渡熱抵抗測定の実施 ■TOパッケージ用の治具を標準で装備
- 用途/実績例
パワー半導体の解析サービス
- 概要
- 【故障箇所特定から拡散層評価や結晶構造などの物理解析まで対応】 ■裏面発光/ OBIRCH解析による故障箇所特定 ■故障箇所への高精度位置特定、FIB加工 ■不良箇所のFIB/LV-SEM観察、EBIC解析による拡散層形状評価 ■TEM観察による結晶構造観察、元素分析 ...
- 用途/実績例
短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析
- 概要
- 用途/実績例
-
すべてを閲覧するには会員登録(無料)が必要です。
すでに会員の方はこちら
株式会社アイテス