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解析 - 企業ランキング(全45社)

更新日: 集計期間:2026年06月03日〜2026年06月30日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

会社名 代表製品
製品画像・製品名・価格帯 概要 用途/実績例
【その他のPWT2400A装置概要】 ■JESD51-14に準拠した測定法によるTj測定 ■試験中に自動で過渡熱抵抗測定の実施 ■TOパッケージ用の治具を標準で装備
【故障箇所特定から拡散層評価や結晶構造などの物理解析まで対応】 ■裏面発光/ OBIRCH解析による故障箇所特定 ■故障箇所への高精度位置特定、FIB加工 ■不良箇所のFIB/LV-SEM観察、EBIC解析による拡散層形状評価 ■TEM観察による結晶構造観察、元素分析 ...
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  1. 代表製品
    パワーサイクル試験による接合部の信頼性評価と故障解析パワーサイクル試験による接合部の信頼性評価と故障解析
    概要
    【その他のPWT2400A装置概要】 ■JESD51-14に準拠した測定法によるTj測定 ■試験中に自動で過渡熱抵抗測定の実施 ■TOパッケージ用の治具を標準で装備
    用途/実績例
    パワー半導体の解析サービスパワー半導体の解析サービス
    概要
    【故障箇所特定から拡散層評価や結晶構造などの物理解析まで対応】 ■裏面発光/ OBIRCH解析による故障箇所特定 ■故障箇所への高精度位置特定、FIB加工 ■不良箇所のFIB/LV-SEM観察、EBIC解析による拡散層形状評価 ■TEM観察による結晶構造観察、元素分析 ...
    用途/実績例
    短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析短波長レーザを用いたSiCデバイスのOBIRCH解析
    概要
    用途/実績例