X線回折装置のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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X線回折装置 - 企業ランキング(全10社)

更新日: 集計期間:2026年05月27日〜2026年06月23日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

会社名 代表製品
製品画像・製品名・価格帯 概要 用途/実績例
【分析目的】 ■構造評価 ■製品調査
XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する原子あるいは分子・イオンの集団が3次元的に繰り返し配列した状態のことです。X線を結晶に照射すると、結晶中の電子によりX線が散乱されます(散乱X線)。散乱X線は干渉し合い、ブラッグの法則を満たしたときに強い回折X線が生じます。 格... ・ポリSi・金属膜・有機膜の結晶性・配向性評価 ・ポリSi・金属膜の結晶子サイズ測定 ・high-k膜・Niシリサイド(NiSi)・Tiシリサイド(TiSi)の結晶構造解析 ・リチウムイオン二次電池電極材料の劣化評価
詳しいデータはカタログをご覧ください ディスプレイ・酸化物半導体・LSI・メモリの分析です
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  1. 代表製品
    【分析事例】X線回折・散乱技術を用いた高分子材料の階層構造評価【分析事例】X線回折・散乱技術を用いた高分子材料の階層構造評価
    概要
    用途/実績例
    【分析目的】 ■構造評価 ■製品調査
    [XRD]X線回折法[XRD]X線回折法
    概要
    XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する原子あるいは分子・イオンの集団が3次元的に繰り返し配列した状態のことです。X線を結晶に照射すると、結晶中の電子によりX線が散乱されます(散乱X線)。散乱X線は干渉し合い、ブラッグの法則を満たしたときに強い回折X線が生じます。 格...
    用途/実績例
    ・ポリSi・金属膜・有機膜の結晶性・配向性評価 ・ポリSi・金属膜の結晶子サイズ測定 ・high-k膜・Niシリサイド(NiSi)・Tiシリサイド(TiSi)の結晶構造解析 ・リチウムイオン二次電池電極材料の劣化評価
    【分析事例】IGZO薄膜の結晶性・膜密度評価【分析事例】IGZO薄膜の結晶性・膜密度評価
    概要
    詳しいデータはカタログをご覧ください
    用途/実績例
    ディスプレイ・酸化物半導体・LSI・メモリの分析です