X線回折装置 - 企業ランキング(全10社)
更新日: 集計期間:2026年05月27日〜2026年06月23日
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| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| 【分析目的】 ■構造評価 ■製品調査 | |||
[XRD]X線回折法
応相談 |
XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する原子あるいは分子・イオンの集団が3次元的に繰り返し配列した状態のことです。X線を結晶に照射すると、結晶中の電子によりX線が散乱されます(散乱X線)。散乱X線は干渉し合い、ブラッグの法則を満たしたときに強い回折X線が生じます。 格... | ・ポリSi・金属膜・有機膜の結晶性・配向性評価 ・ポリSi・金属膜の結晶子サイズ測定 ・high-k膜・Niシリサイド(NiSi)・Tiシリサイド(TiSi)の結晶構造解析 ・リチウムイオン二次電池電極材料の劣化評価 | |
| 詳しいデータはカタログをご覧ください | ディスプレイ・酸化物半導体・LSI・メモリの分析です | ||
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- 代表製品
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【分析事例】X線回折・散乱技術を用いた高分子材料の階層構造評価
- 概要
- 用途/実績例
- 【分析目的】 ■構造評価 ■製品調査
[XRD]X線回折法
- 概要
- XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する原子あるいは分子・イオンの集団が3次元的に繰り返し配列した状態のことです。X線を結晶に照射すると、結晶中の電子によりX線が散乱されます(散乱X線)。散乱X線は干渉し合い、ブラッグの法則を満たしたときに強い回折X線が生じます。 格...
- 用途/実績例
- ・ポリSi・金属膜・有機膜の結晶性・配向性評価 ・ポリSi・金属膜の結晶子サイズ測定 ・high-k膜・Niシリサイド(NiSi)・Tiシリサイド(TiSi)の結晶構造解析 ・リチウムイオン二次電池電極材料の劣化評価
【分析事例】IGZO薄膜の結晶性・膜密度評価
- 概要
- 詳しいデータはカタログをご覧ください
- 用途/実績例
- ディスプレイ・酸化物半導体・LSI・メモリの分析です
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