X線回折装置 - 企業ランキング(全10社)
更新日: 集計期間:2026年09月02日〜2026年09月29日
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| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
[XRD]X線回折法
応相談 |
XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する原子あるいは分子・イオンの集団が3次元的に繰り返し配列した状態のことです。X線を結晶に照射すると、結晶中の電子によりX線が散乱されます(散乱X線)。散乱X線は干渉し合い、ブラッグの法則を満たしたときに強い回折X線が生じます。 格... | ・ポリSi・金属膜・有機膜の結晶性・配向性評価 ・ポリSi・金属膜の結晶子サイズ測定 ・high-k膜・Niシリサイド(NiSi)・Tiシリサイド(TiSi)の結晶構造解析 ・リチウムイオン二次電池電極材料の劣化評価 | |
| 測定法:XRD・計算科学・データ解析 製品分野:二次電池・ディスプレイ・バイオテクノロジ・医薬品・化粧品 分析目的:構造評価 | 二次電池・ディスプレイ・バイオテクノロジ・医薬品・化粧品の分析です。 | ||
| 詳しいデータはカタログをご覧ください | 酸化物半導体・LSI・メモリ・電子部品・医薬品・化粧品の分析です | ||
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- 代表製品
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[XRD]X線回折法
- 概要
- XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する原子あるいは分子・イオンの集団が3次元的に繰り返し配列した状態のことです。X線を結晶に照射すると、結晶中の電子によりX線が散乱されます(散乱X線)。散乱X線は干渉し合い、ブラッグの法則を満たしたときに強い回折X線が生じます。 格...
- 用途/実績例
- ・ポリSi・金属膜・有機膜の結晶性・配向性評価 ・ポリSi・金属膜の結晶子サイズ測定 ・high-k膜・Niシリサイド(NiSi)・Tiシリサイド(TiSi)の結晶構造解析 ・リチウムイオン二次電池電極材料の劣化評価
【分析事例】リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化
- 概要
- 測定法:XRD・計算科学・データ解析 製品分野:二次電池・ディスプレイ・バイオテクノロジ・医薬品・化粧品 分析目的:構造評価
- 用途/実績例
- 二次電池・ディスプレイ・バイオテクノロジ・医薬品・化粧品の分析です。
【分析事例】高温XRDによる熱分解生成物の同定
- 概要
- 詳しいデータはカタログをご覧ください
- 用途/実績例
- 酸化物半導体・LSI・メモリ・電子部品・医薬品・化粧品の分析です
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