開発から品質管理まで！さまざまな形態の試料解析を可能にした超高性能のX線回折装置
多目的X線回折装置Empyrean（エンピリアン）に搭載された新開発MultiCore Opticsは、多様なサンプルを簡単な操作で測定することを可能にしました。 1つの装置で、粉末から薄膜、ナノ材料から固形物まで、原料が持つ様々な見どころを色々な角度でとらえる多目的XRD機能を搭載！ 標準構成にいくつかのスリットや分析ソフトウェアを追加しただけの単純なものから、専用の光学系、光源、および検出器を使用したトップパフォーマンス構成に至る様々な方法でアプリケーションを処理することができます。 【特長】 ■原料、処方違いの製品評価 ■未知試料や開発品を急いで解析したい時に強力サポート ■多様なサンプルの効率的な測定に好適 ■簡単操作 ■サンプルスループット30％以上向上 ■40％以上高い感度や速度で不純物検出 ■複数の測定条件の設定ミスや漏れの削減 ■ユーザートレーニング時間を30％短縮 ※詳しくはウェブサイトをご参照下さい。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【アプリケーション】 １．粉末多結晶試料のアプリケーション ●結晶相定性分析、定量分析（リートベルト法） ●結晶化度解析、結晶子サイズ、結晶構造解析ならびに精密化 ●２Ｄ検出器のよるデバイ環による結晶状態確認、温度・湿度・圧力などの状態観測 ２．薄膜試料のアプリケーション ●結晶相定性分析、X線反射率、薄膜応力解析 ●配向解析、In-plane回折、エピタキシャル薄膜解析 ●逆格子空間マッピング、温度可変状態での観測 ３．ナノマテリアルのアプリケーション ●小角X線散乱（SAXS）、結晶子サイズ解析、非晶質定量 ●局所構造（PDF）解析、結晶化の過程観測 ４．バルク試料のアプリケーション ●X線CT（Computed tomography）、微小部解析 ●配向解析、応力解析
価格情報
-
納期
用途／実績例
●電池材料：結晶構造解析 ●製薬：結晶多形・スクリーニング ●金属：残留応力・極点測定・劣化評価 ●薄膜：エピタキシャル膜・逆格子マッピング・応力分析 ●ナノマテリアル：小角、広角Ｘ線散乱・結晶歪 他
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
この製品に関するニュース（1）
企業情報
粒子計測装置とX線分析装置を提供する、Malvern Panalytical（マルバーン・パナリティカル）社の日本事業部です。東京と神戸を拠点に国内計6ヶ所の営業所、２ヶ所のアプリケーションラボラトリにて、粒子計測・X線分析装置の販売やサービス、サポート業務をはじめ、各種セミナーなどのイベントも行っています。 粒子計測や熱分析（カロリメトリ）などの製品を持つMalvern社と、X線回折や蛍光X線分析装置メーカーであるPanalytical社が2018年に統合し誕生いたしました。各分野のリーディングカンパニーである両社の統合により、R&D、プロセスコントロール、品質管理、材料特性分析に携わる幅広い業界のお客様へ、最先端のソリューションをご提供いたします。