JASIS2022に出展します！

リアルタイムの動的粒子画像解析　～動的画像法による粒子画像と粒子形状データで、より深い材料分析の世界へ～

Hydro Insight（ハイドロ・インサイト）は、粒子径分布測定装置マスターサイザー3000と一緒に使用するように設計されており、レーザ回折から得られる粒子径データを補完する粒子画像と粒子形状データを提供します。 ●Vision Analytical のダイナミックイメージングの知識とマルバーン・パナリティカルの分散・フロー知識を組み合わせた新測定ユニットです。 ●マスターサイザーの粒度分布測定と同時に、個々の粒子画像と30種類の粒子形状パラメータを取得することができます。 ●従来の粒度分布のみならず、粒子形状の詳細を取得することができ、粒子の新たな一面を見ることができます。 【HydroInsightの特長】 ●高速・高解像度の動的画像技術 127フレーム/秒のデジタルカメラ、解像度5メガピクセル（最大） ●個々の粒子および液体粒子分散体の撮像 ●サムネイル画像保存 ●定量的データの取得 粒子の幅や伸長度など、粒子の大きさや形状に関する定量的データの取得が可能 ●レーザ回折のワークフロー組み込み レーザ回折測定と同時に、短時間で多くの粒子の形状情報を得ることが可能

• 分析機器・装置

【2021年透過測定・薄膜測定オプション登場】卓上型X線回折装置(XRD)!1％以下の低濃度の結晶相まで検出可能な高感度分析装置

スペクトリス(株)マルバーン・パナリティカル事業部は、卓上型粉末X線回折装置Aerisで、この度大きく機能を追加したリニューアルモデルを発売しました。 薄膜XRD（GIXRD）測定の機能拡張により、薄膜やコーティング材料の結晶性や残留応力の測定が可能になったほか、透過率測定機能の拡張により、サンプル前処理時の配向の影響を低減し、製剤試料のような試料でも、より正確なデータが得られるようになりました。 今回のリニューアルで、以前は床置き型の大型装置でのみ対応していた機能が搭載できるようになりました。 新しいAerisは、多結晶材料から高品質のデータをスループットよく提供することが出来る卓上型の多目的X線回折装置であり、すべての環境で使用できるように設計されています。 また従来のAerisでも定評のあったユーザフレンドリな操作性、X線暴露の心配のない安心設計、詳細な解析が可能な大型の床置き装置と同じ解析ソフトウエアは今回のリニューアルでもしっかりと引き継がれています。 製品の詳細説明、測定事例のご紹介、お見積りのご要望などは是非お問合せください！

• X線検査装置
• 分析機器・装置

たった40×40cmのスペースで元素分析 小型・パワフルな卓上XRF！従来、測定困難と言われたClなどの元素に強みを発揮。

イプシロン１は小型でお求めやすい価格でありながら、高感度の元素分析を実現したエネルギー分散型蛍光X線（EDX）装置です。 信頼のおける光学系を採用することで、従来、測定困難と言われた塩素（Cl）などの元素分析にも最大限の強みを発揮します。 オペレータへの依存とサンプル調製を最小限に抑えることにより、高速でコスト効率よく、高精度なデータを生成できます。 このため、費用が高く、専門の熟練オペレータも必要なAAS、ICP、および湿式化学法などの他の分析技術と比較すると、維持費の総額が大幅に削減した例もあります。 【特長】 ◆低ユーティリティ負荷：付帯設備（排気設備）が必要なく、100V電源のみで駆動 ◆非破壊分析：前処理に伴う酸やアルカリ等の危険な試薬などが不要 ◆大学・公的研究機関様向けの特別価格をご用意 【用途】 ◆高性能な元素分析装置：湿式元素分析装置（原子吸光やICP技術など）のバックアップに。 ◆省スペースで堅牢性が高く、現場への設置、携帯型（ハンドヘルド）蛍光X線分析装置の代替装置に ※仕様詳細はPDFをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 蛍光X線分析装置

高性能・簡単操作・多用途！ナノ領域の粒子測定に適した装置【圧倒的な論文数を誇る世界標準レベルのDLS】

ゼータサイザーアドバンスシリーズは、ご好評いただき多くの台数を導入させていただいたゼータサイザーナノの新モデルです。 ゼータサイザーアドバンスシリーズの3モデルは、粒径、粒子荷電(ゼータ電位)および分子量の分析に対応します。 さらに、適応相関、M3-PALSゼータ電位分析、定電流ゼータモード、ディープラーニングベースのデータ品質アドバイスシステムなどの高度な機能を備えています。 これら3つのモデルにはそれぞれ、ブルーラベルとレッドラベルのバージョンをご用意しています。 ・ブルーラベル 金属コロイド、金属酸化物、顔料などの日常的なサンプル調査用です ・レッドラベル タンパク質、界面活性剤水溶液、固体含有量の低いサンプルなど、取り扱いが難しいサンプルタイプ用です。

• 電気計器・電位計(メータ)
• 分析機器・装置
• 光学測定器

開発から品質管理まで！さまざまな形態の試料解析を可能にした超高性能のX線回折装置

多目的X線回折装置Empyrean（エンピリアン）に搭載された新開発MultiCore Opticsは、多様なサンプルを簡単な操作で測定することを可能にしました。 1つの装置で、粉末から薄膜、ナノ材料から固形物まで、原料が持つ様々な見どころを色々な角度でとらえる多目的XRD機能を搭載！ 標準構成にいくつかのスリットや分析ソフトウェアを追加しただけの単純なものから、専用の光学系、光源、および検出器を使用したトップパフォーマンス構成に至る様々な方法でアプリケーションを処理することができます。 【特長】 ■原料、処方違いの製品評価 ■未知試料や開発品を急いで解析したい時に強力サポート ■多様なサンプルの効率的な測定に好適 ■簡単操作 ■サンプルスループット30％以上向上 ■40％以上高い感度や速度で不純物検出 ■複数の測定条件の設定ミスや漏れの削減 ■ユーザートレーニング時間を30％短縮 ※詳しくはウェブサイトをご参照下さい。

• X線検査装置
• 分析機器・装置

たった40×40cmのスペースで元素分析 小型・パワフルな卓上XRF

Epsilon 1は、分光計、内蔵コンピュータ、タッチスクリーン、および分析ソフトウェアで構成されている完全に統合されたエネルギー分散型XRF分析装置です。 最新の高度な励起および検出技術で動作するEpsilon 1は、低コストのベンチトップ装置クラスで最高の性能を誇ります。 Epsilon 1は、オペレータへの依存とサンプル調製を最小限に抑えることにより、高速でコスト効率よく、高精度なデータを生成できます。 このため、費用が高く、専門の熟練オペレータも必要なAAS、ICP、および湿式化学法などの他の分析技術と比較する、維持費の総額が大幅に削減されます。

• 蛍光X線分析装置

低コントラスト粒子も正確に解析！高再現性を実現！

『モフォロギ4』では、粒子を撮像して解析・数値化することで、 粒子径分布情報に加えて形状情報が加わり 凝集粒子、針状粒子、桿状粒子を数値として管理できます。 本製品は新たに開発された粒子輪郭検知アルゴリズム「シャープエッジ機能」を搭載し、 これまで検出が難しかった低コントラスト粒子も正確に解析できるようになりました。 【特長】 ■粒子輪郭検知アルゴリズム「シャープエッジ機能」を搭載 ■サンプル分散から測定まですべて自動 ■測定時間は従来機に比べ最大25％短縮 ※毎月、個別相談会を実施しています。製品をお持ちの方はもちろん、製品購入予定の方の対象となっておりますので、お気軽にご連絡ください。オンラインでの対応も可能です。 詳細ページ：https://www.malvernpanalytical.com/jp/about-us/press-releases/news/PRJP21annualpersonaltraining.html

• 分析機器・装置

温度計や圧力ゲージがあるのに粒子径メータはない？レーザー回折式オンライン粒度分布測定機（乾式）

お客様のプロセスにはどの測定機が好適？ ↓　　↓　　↓ パンフレットにチャートを掲載しておりますので是非ダウンロードしてご確認ください！ 【Point】 ・オンラインでもインラインでもプロセスに合った設置方法が可能。 ・インライン設置の場合、フローセルの配管径は３種類（１インチ、２インチ、３インチ）から可能。 ・エアーにより光学ウインドウへの粉の付着を防止

• 分析機器・装置

最大2500ミクロンの粒子測定が可能。設置容易なプローブタイプ

50〜2500ミクロンの粒子測定が可能な粒状物質の粒度分布測定機。 直接配管へ挿入されるためサンプリングの必要はありません。 特許を有するレーザーを利用した光ファイバーカウンティング原理を応用し、粒子径と速度を同時に測定。 空間フィルタ速度計測法と統計学に基づき粒子量と粒度分布を算出。校正は不必要ながら安定した測定を行います。 【Point】 ・測定範囲：50 μｍ～6000 μｍ ・設置が容易 ・振動に強くキャリブレーション不要 ・防爆仕様もあり ・強酸、強アルカリ、有機溶媒などでの益虫での粒子計測も可能 【導入事例】 ・製薬ラインにおける乾式測定 ・強酸、強アルカリ、有機溶媒などの益虫での粒子計測 　etc...

• その他計測・記録・測定器
• 分析機器・装置
• 光学測定器

波長分散型(WD)とエネルギー分散型(ED)両方のコアテクノロジを1台に搭載

複数のX線技術（WDX/EDX/XRD）を1台に統合。 Zetium は､軽元素を高感度に分析可能な波長分散と､高速分析･微小部分析に適したエネルギー分散の技術を1つのプラットフォームに搭載することを実現。 軽元素を得意とするWDXの光学系と、重元素を高分解能に検出するEDXの光学系との同時読み取りにより、 従来のWDXのみの装置では困難であった最適な測定条件を提供します。 ●最大５つの検出器で幅広い元素をカバー ・ガスフロー検出器（軽元素用） ・ハイパーシンチレーション検出器（重元素用） ・Xeシールド検出器（中間元素好感度測定用） ・ハイパーチャンネル固定検出器（特定元素専用） ・SDD検出器（EDX測定用） ●ラボでの研究・開発から工場での測定自動化へ 測定の自動化に対応しており、お客様の設備の状態に合わせて、装置のスペックや組み込み方法をご提案します。 高精度・高速・微小部分析とあらゆる分析ニーズに最適の光学系で柔軟に対応。更にオプションの選択によりフリーライムの定量も可能。

• 蛍光X線分析装置

高速で正確なアットラインの元素分析を実現！ 高性能デスクトップ型 エネルギー分散型蛍光X線分析装置

Epsilon 4は、従来機に比べ測定感度を向上させたエネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置（EDXRF）です。 R&Dからプロセス管理の分野で、大気もしくはHeガス雰囲気下で炭素(C)またはフッ素(F)からアメリシウム(Am)まで元素分析が必要な様々な業界に対応する多機能装置です。 最新の励起/検出技術と完成された分析ソフトウェアが融合し、 スマートにデザインされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型のXRF分光計に匹敵します。 環境分析、セメント、鉱物、石油製品、食品、プラスチック、化学製品、液体、コーティング材分野に活用されています。 日本語ソフトウェア搭載しています！ 【用途例】 ●RoHSスクリーニング ●原材料のスクリーニング ●石油製品中のS,Ni,V ●石油化学製品中の添加剤分析 ●土壌分析や広範囲な酸化物分析 ●偽物質の識別 ●金属の識別 ●トライポロジー分析

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高速測定で寿命の短いスプレー粒子を計測

スプレーやエアロゾルのような噴霧液体粒子は高濃度できわめて短寿命です。 スプレーテックはこのような粒子特性の正確な測定にお答えします！！ 【高速測定】 最大10000回/秒（10 kHz）の高速測定により、正確なスプレーの噴射状況がわかります。噴射中の流刑の急激な変化は高速測定のでのみ知ることができます。 【広い測定範囲】 スプレーテックはわずか２つのレンズで0.1 μm－2000 μmの測定範囲をカバーします。 【高濃度測定】 特許である多重散乱補正機能により高濃度の噴霧粒子でも正確に測定します。 【広いワーキングレンジ】 独自の光学設計により広いワーキングレンジ（流刑10 μm時、1m）を実現。光学系のエアーパージと適切な光学ベンチの選択で、高濃度で広範囲に散布されるスプレーでも連続測定が可能です。 【簡単操作】 【正確なデータ】 【豊富なオプション】 鼻孔スプレー、吸引器測定システムなど豊富なオプションを用意。

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• 光学測定器

温度計や圧力ゲージがあるのに粒子径メータがない？製造現場・プロセス向け粒子径分布測定機で解決！

マルバーンのプロセス用粒子径分布測定機は、プロセス配管中を流れる粉体の粒子径分布をリアルタイムモニタリングできます。 ●導入のメリット● 【プラントの生産効率アップ・歩留り向上】 オンライン・インラインの粒子径分布測定機を導入することにより、プロセス配管内の粒子径分布が制御室のディスプレイ上にリアルタイムに表示可能となります。その結果・・・ ○プランンとの生産効率の改善 ○生産品質データの向上（生産数・歩留り数） 【設備トラブルの事前察知】 粒子径モニターによる定点監視で設備トラブルの兆候を事前に防止できた事例が多くあります。また、配管への粉体の付着トラブル防止にも粒子径モニターは有効です。 【現場作業者の負担軽減】 粉体製造プロセスラインからサンプルを採取する作業者は、粉じんにさらされるリスクがあります。プロセス用粒子径分布測定機なら、配管から粉体を取り出すことなく配管中の粒子径分布を測定することが可能です。

• 分析機器・装置

セントラル科学株式会社は、幕張メッセで開催される「第28回インターフェックスWeek東京」のプロセス検査・測定ゾーンに出展いたします。 当社ブースではSievers ブランドの製薬用水管理に関する測定器および、サステナブル素材研究のニーズに合わせた生分解性試験装置を展示します。 ・展示予定製品 「オンラインTOC計 Sievers M500」 「ラボ型TOC計 Sievers M9型」 「エンドトキシン計 Sievers Eclipse」 「バイオバーデン迅速分析装置 Sievers Soleil」 「BOD/呼吸活性測定器 OxiTop IDS」 また、出展社セミナー会場にて「化粧品の信頼性とサステナビリティを高める洗浄評価・生分解性試験」をテーマとしたセミナーも実施します！ 皆様のご来場を心よりお待ちしております。

この度フォス・ジャパンでは、皆様にフォスの分析装置をご覧いただく機会をご用意いたしました。 本内覧会では、幅広く多くの方々に情報を提供したく、分析装置の選定のヒントや、 今お使いの装置のさらなる有効活用術など、今後の分析について知見を深めたい方から、 分析装置の選定について情報を求めている方まで、充実したセミナーを予定しております。 また、各種NIR装置の展示を予定しており、持参頂いたサンプルを実際に測定することも可能です。 もちろん装置見学のみのご来場も大歓迎です！！ 皆様のご参加を心よりお待ちしております。 ■日時：2026年6月18日 (木)   11:00～16:30（受付開始10:45） ■会場：神戸国際会館 セミナーハウス702号会議室　/　一部オンライン参加可能 ■概要： ・ご挨拶・フォス製品ラインアップ紹介 ※オンライン参加可能 ・NIR基礎と最適な機種の選定について ※オンライン参加可能 ・検量線作成ソフト　FossCalibrator実演　検量線をつくってみよう ※会場のみ ・サンプル測定・内覧会 ※会場のみ 詳細は、PDFをご確認ください。

エイチ・シー・ネットワークス株式会社は、5月13日(水)～15日(金)の3日間にわたり、 東京ビッグサイトで開催される「第17回　EDIX(教育総合展)東京」に出展します。 ■展示会概要 ・展示会名：第17回 EDIX（教育 総合展）東京 ・日時：5月13日(水)～15日(金) 10:00～18:00　（最終日は17:00まで） ・主催：EDIX実行委員会（企画運営：RX Japan株式会社） 教育現場では、BYODの普及・研究データの機密性向上・IoT機器の増加などにともない、従来のネットワーク管理では対応が難しい時代に突入しています。 本展示会で当社は、AIによる自動防御＆予測型セキュリティ、ネットワーク最適化、運用負荷軽減ソリューションをご紹介し、学生や教職員にとって安全で快適な学習研究環境の実現に寄与してまいります。

株式会社三橋製作所は、インテックス大阪で開催される 高機能フィルム展に出展いたします。 皆様のご来場を心よりお待ちしております。

謹啓 貴社ますますご清祥のこととお慶び申し上げます。 平素は格別のお引き立てを賜り、厚く御礼申し上げます。 さて、今般頭書見本市におきまして、下記製品を展示し機能や性能をご紹介させていただきます。 ・スイスHaeusler社製 ロールベンダー 何卒、展示小間へのご来駕の上、ご高覧賜りますようご案内申し上げます。