卓上型X線回折装置（XRD）　Aeris（ エアリス）

動的画像法により粒子画像と粒子形状データが取得できるマスターサイザー3000用アクセサリです。 このアクセサリを使えば、粒子径分布だけでなく、粒子画像や定量的な粒子形状データを得ることができます。 国際粉体工業展大阪にも出品予定！ぜひブースで実物をご覧ください。

卓上型エネルギー分散型蛍光X線分析装置 Epsilon1(イプシロン ワン)に新たに燃料中の低濃度硫黄分析に特化した仕様を持つ専用モデル、(ISO13032対応モデル)を販売開始いたします。 ■液体窒素レスの検出器を搭載、真空ポンプ、ヘリウムガスなどの付帯設備が不要(大気環境測定) ■分光計、内蔵コンピュータ、タッチスクリーンおよび分析ソフトウェアで構成されている完全一体型装置 ■高出力X線管球と最新の高感度検出器により、微量元素の測定に有効 【燃料中の低濃度硫黄分析専用モデル　Epsilon1の特長】 ■国際規格ISO13032 準拠、日本工業規格JIS K2541-4にも準拠 ■低濃度の硫黄燃料分析用に特化した仕様 ■工場出荷時に検量線によるキャリブレーションデータインストール済みで、現場に導入後すぐに測定が始められます 分析1回あたり約140円でランニングコストを抑えた分析が可能でこれらの硫黄分析に特化した機能により、硫黄の測定により環境負荷を抑えることが重要な各業界でのご要求に十分にこたえることができる分析装置です。

スペクトリス（株）マルバーン・パナリティカル事業部は透過測定機能、薄膜測定機能を搭載した卓上X線回折装置Aeris（エアリス）を2021年4月より販売開始いたします。 【新しいAerisの特徴】 ・1%以下の結晶相・結晶多形を検出 ・卓上機でありながら、薄膜X線回折法及び透過法まで拡張可能 ・装置内部を開閉せずに試料装填、測定が可能な安心の操作性 ・試料水平方式で脱落、試料間コンタミネーションの不安なし 【Aeris機能拡張の背景】 この度大きく機能を追加したリニューアルモデルを発売します。具体的には、薄膜XRD（GIXRD）測定の機能拡張により、薄膜やコーティング材料の結晶性や残留応力の測定が可能になったほか、透過率測定機能の拡張により、サンプル前処理時の配向の影響を低減し、製剤試料のような試料でも、より正確なデータが得られるようになりました。 新しいAerisは、多結晶材料から高品質のデータをスループットよく提供することが出来る卓上型の多目的X線回折装置であり、すべての環境で使用できるように設計されています。また従来の機能は今回のリニューアルでも引き継がれています。

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