【2021年透過測定・薄膜測定オプション登場】卓上型X線回折装置(XRD)!1％以下の低濃度の結晶相まで検出可能な高感度分析装置
スペクトリス(株)マルバーン・パナリティカル事業部は、卓上型粉末X線回折装置Aerisで、この度大きく機能を追加したリニューアルモデルを発売しました。 薄膜XRD（GIXRD）測定の機能拡張により、薄膜やコーティング材料の結晶性や残留応力の測定が可能になったほか、透過率測定機能の拡張により、サンプル前処理時の配向の影響を低減し、製剤試料のような試料でも、より正確なデータが得られるようになりました。 今回のリニューアルで、以前は床置き型の大型装置でのみ対応していた機能が搭載できるようになりました。 新しいAerisは、多結晶材料から高品質のデータをスループットよく提供することが出来る卓上型の多目的X線回折装置であり、すべての環境で使用できるように設計されています。 また従来のAerisでも定評のあったユーザフレンドリな操作性、X線暴露の心配のない安心設計、詳細な解析が可能な大型の床置き装置と同じ解析ソフトウエアは今回のリニューアルでもしっかりと引き継がれています。 製品の詳細説明、測定事例のご紹介、お見積りのご要望などは是非お問合せください！
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基本情報
マルバーン・パナリティカルでは高感度・詳細解析が可能な卓上型のX線回折装置 Aeris（エアリス）の他、卓上の蛍光X線分析装置、詳細な分析を可能にする床置き型の各種X線分析装置、粒度分布測定のグローバルスタンダートであるマスターサイザーシリーズ、ナノ粒子分析のゼータサイザーシリーズなども取り扱っています。 マルバーン・パナリティカルは、粒子計測装置を主に取り扱うMalvern Instruments社(イギリス)とX線分析装置を主に取り扱うPANalytical社(オランダ)の統合により2018年に誕生した、精密計測機器、制御機器を供給するSpectris PLC （イギリス）の一事業部で、日本ではスペクトリス（株）マルバーン・パナリティカル事業部として活動をしています。
価格帯
納期
用途／実績例
【粉末多結晶試料のアプリケーション】 ●結晶相定性分析、定量分析（リートベルト法） ●結晶化度解析、結晶子サイズ、結晶構造解析ならびに精密化 ●２Ｄ検出器のよるデバイ環による結晶状態確認 ●温度可変状態観測 ※配向がデータに影響する製薬材料や薄膜試料に対応する透過測定・薄膜測定オプションもございます。 ※詳しくはPDFをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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この製品に関するニュース（2）
企業情報
粒子計測装置とX線分析装置を提供する、Malvern Panalytical（マルバーン・パナリティカル）社の日本事業部です。東京と神戸を拠点に国内計6ヶ所の営業所、２ヶ所のアプリケーションラボラトリにて、粒子計測・X線分析装置の販売やサービス、サポート業務をはじめ、各種セミナーなどのイベントも行っています。 粒子計測や熱分析（カロリメトリ）などの製品を持つMalvern社と、X線回折や蛍光X線分析装置メーカーであるPanalytical社が2018年に統合し誕生いたしました。各分野のリーディングカンパニーである両社の統合により、R&D、プロセスコントロール、品質管理、材料特性分析に携わる幅広い業界のお客様へ、最先端のソリューションをご提供いたします。
