卓上X線回折装置 Aeris(エアリス)に透過測定機能と薄膜測定機能が搭載。 卓上型で初の多目的X線回折装置として、リニューアル
スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部
スペクトリス(株)マルバーン・パナリティカル事業部は透過測定機能、薄膜測定機能を搭載した卓上X線回折装置Aeris(エアリス)を2021年4月より販売開始いたします。
【新しいAerisの特徴】
・1%以下の結晶相・結晶多形を検出
・卓上機でありながら、薄膜X線回折法及び透過法まで拡張可能
・装置内部を開閉せずに試料装填、測定が可能な安心の操作性
・試料水平方式で脱落、試料間コンタミネーションの不安なし
【Aeris機能拡張の背景】
この度大きく機能を追加したリニューアルモデルを発売します。具体的には、薄膜XRD(GIXRD)測定の機能拡張により、薄膜やコーティング材料の結晶性や残留応力の測定が可能になったほか、透過率測定機能の拡張により、サンプル前処理時の配向の影響を低減し、製剤試料のような試料でも、より正確なデータが得られるようになりました。
新しいAerisは、多結晶材料から高品質のデータをスループットよく提供することが出来る卓上型の多目的X線回折装置であり、すべての環境で使用できるように設計されています。また従来の機能は今回のリニューアルでも引き継がれています。
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コンパクト且つ高性能な卓上型X線回折装置に新機能が搭載!より様々な分析に対応できるようになりました。