プラズマエッチング装置のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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プラズマエッチング装置 - 企業ランキング(全6社)

更新日: 集計期間:2026年09月02日〜2026年09月29日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

会社名 代表製品
製品画像・製品名・価格帯 概要 用途/実績例
3~8インチウェハ対応の大気搬送型CtoCシステム。 平行平板型RIE装置を基本とし、電極切替によるマルチモードプラズマによりソフトモードプラズマ処理を実現 CF系、O2、Ar、H2などのガス系とプラズマモードの組み合わせにより差的なプロセスを選択可能。 オプションで両面処... パワーデバイスアッシング ディスクリートICエッチング(自然酸化膜除去。電極形成前処理) MEMSデバイスアッシング・ディスカム 化合物半導体ウェハクリーニング(有機物除去)
シンプルな構造の高密度プラズマエッチング装置。大口径化が容易で200mm以上のウェハやA4サイズの矩形基板の処理に適しています。 基板サイズは1m□程度を想定しており、中小型ディスプレイパネル、大型フォトマスクのエッチング、アッシングおよび高密度プリント基板のクリーニング、ディ... 200mm以上のウェハのエッチング Si Si窒化膜・酸化膜 金属膜 有機膜 フォトレジスト除去 フォトマスクエッチング 大型高密度プリント基板ディスカム・クリーニング・親水化処理
標準仕様 ステージ寸法:250mm□ エッチング方式:RIE CF系ガス標準 シンプルな機構でRIE/DPモード切替可能 ステージ温度制御(水冷/加熱)選択可能  ステージ寸法大型化(最大500mm□)対応可能  MEMSセンサーエッチング:SiN SiO2、Si 電子部品エッチング:SiO2 半導体ウェハ成膜前ライトエッチング(自然酸化膜除去) インプリントモールド厚膜レジストパターニング MEMS/半導体レジストアッシング・ディスカム
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  1. 代表製品
    枚葉式プラズマエッチング装置「EXAM-Σ」枚葉式プラズマエッチング装置「EXAM-Σ」
    概要
    3~8インチウェハ対応の大気搬送型CtoCシステム。 平行平板型RIE装置を基本とし、電極切替によるマルチモードプラズマによりソフトモードプラズマ処理を実現 CF系、O2、Ar、H2などのガス系とプラズマモードの組み合わせにより差的なプロセスを選択可能。 オプションで両面処...
    用途/実績例
    パワーデバイスアッシング ディスクリートICエッチング(自然酸化膜除去。電極形成前処理) MEMSデバイスアッシング・ディスカム 化合物半導体ウェハクリーニング(有機物除去)
    HCD型高密度プラズマエッチング装置HCD型高密度プラズマエッチング装置
    概要
    シンプルな構造の高密度プラズマエッチング装置。大口径化が容易で200mm以上のウェハやA4サイズの矩形基板の処理に適しています。 基板サイズは1m□程度を想定しており、中小型ディスプレイパネル、大型フォトマスクのエッチング、アッシングおよび高密度プリント基板のクリーニング、ディ...
    用途/実績例
    200mm以上のウェハのエッチング Si Si窒化膜・酸化膜 金属膜 有機膜 フォトレジスト除去 フォトマスクエッチング 大型高密度プリント基板ディスカム・クリーニング・親水化処理
    プラズマエッチング装置「EXAM」サンプルテスト受付中プラズマエッチング装置「EXAM」サンプルテスト受付中
    概要
    標準仕様 ステージ寸法:250mm□ エッチング方式:RIE CF系ガス標準 シンプルな機構でRIE/DPモード切替可能 ステージ温度制御(水冷/加熱)選択可能  ステージ寸法大型化(最大500mm□)対応可能 
    用途/実績例
    MEMSセンサーエッチング:SiN SiO2、Si 電子部品エッチング:SiO2 半導体ウェハ成膜前ライトエッチング(自然酸化膜除去) インプリントモールド厚膜レジストパターニング MEMS/半導体レジストアッシング・ディスカム