原子間力顕微鏡 - 企業ランキング(全12社)
更新日: 集計期間:2025年11月19日〜2025年12月16日
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| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| 詳しいデータはカタログをご覧ください。 | 製品分野:食品 分析目的:形状評価、製品調査、機械特性評価 | ||
[AFM]原子間力顕微鏡法
応相談 |
■使用する探針 シリコン単結晶ウエハを加工して作られた鋭い探針で試料表面を走査します。先端径は10nm未満にまで加工されています。 ■タッピングモード タッピングモードは、探針を約300kHzの高周波で強制振動させ、試料表面を走査します。 走査の過程で、探針が試料表面... | ・基板(Si・化合物半導体・ガラス・金属・有機物など)の表面粗さ評価 ・薄膜(ポリシリコン・酸化物・金属・有機物など)の表面粗さ評価 ・MEMS の形状評価 | |
| 詳しいデータはカタログをご覧ください | パワーデバイスの分析です | ||
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- 代表製品
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【分析事例】AFM-MAによる食品(ロースハム)の機械特性評価
- 概要
- 詳しいデータはカタログをご覧ください。
- 用途/実績例
- 製品分野:食品 分析目的:形状評価、製品調査、機械特性評価
[AFM]原子間力顕微鏡法
- 概要
- ■使用する探針 シリコン単結晶ウエハを加工して作られた鋭い探針で試料表面を走査します。先端径は10nm未満にまで加工されています。 ■タッピングモード タッピングモードは、探針を約300kHzの高周波で強制振動させ、試料表面を走査します。 走査の過程で、探針が試料表面...
- 用途/実績例
- ・基板(Si・化合物半導体・ガラス・金属・有機物など)の表面粗さ評価 ・薄膜(ポリシリコン・酸化物・金属・有機物など)の表面粗さ評価 ・MEMS の形状評価
【分析事例】SiCTrenchMOSFETトレンチ側壁の粗さ評価
- 概要
- 詳しいデータはカタログをご覧ください
- 用途/実績例
- パワーデバイスの分析です
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