影響評価 - 企業ランキング(全6社)
更新日： 集計期間:2026年02月11日〜2026年03月10日
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企業情報を表示
| 会社名 | 代表製品 | ||
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| 製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
| ●AFM走査型プローブ顕微鏡では、極めて微小な凹凸（表面形態）を捉えて測⾧することが可能 ●AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層（~5nm程度）の元素分析や深さ方向の濃度勾配を調査することが可能 | |||
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セイコーフューチャークリエーション株式会社
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- 代表製品
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【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価
- 概要
- ●AFM走査型プローブ顕微鏡では、極めて微小な凹凸（表面形態）を捉えて測⾧することが可能 ●AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層（~5nm程度）の元素分析や深さ方向の濃度勾配を調査することが可能
- 用途/実績例
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セイコーフューチャークリエーション株式会社
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