故障解析 - 企業ランキング(全5社)

更新日：2026年06月17日集計期間:2026年05月20日〜2026年06月16日
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会社名	企業情報	代表製品
会社名	企業情報	製品画像・製品名・価格帯	概要	用途/実績例
株式会社アイテス	所在地滋賀県従業員数 106 事業内容【解析・信頼性評価事業】　■電子部品各種データ収集から故障解析までの解析・評価　■研究開発・製造における原材料評価および特性評価【検査装置開発事業】　■太陽光パネル検査・測定器の開発・販売【電子機器修理事業】　■産業用機器およびパソコンの修理【ウェハー... 主要取引先	パワーサイクル試験による接合部の信頼性評価と故障解析応相談	【その他のPWT2400A装置概要】 ■JESD51-14に準拠した測定法によるTj測定 ■試験中に自動で過渡熱抵抗測定の実施 ■TOパッケージ用の治具を標準で装備
		信頼性試験によるスペック確認と故障解析応相談
		パワーデバイスの故障解析応相談	・パッケージ状態・開封済みチップ・チップ単体・Wafer状態の裏面研磨　Siチップサイズ：200um～15mm ・IR-OBIRCH解析：　～100mA/10V　～100uA/25V　まで対応　　　　　　　　　感度：数十pA 　　　　　　　　　低倍最大視野：6.5...	・ボンディング起因の不良　異物のアタック、応力によるクラック・ICプロセス起因の不良　各層パターンニング、ソースAl不良、異物混入、ゲート酸化膜破壊、転位・FIB-SEMによる拡散層観察
---	所在地 --- 事業内容 ---	--- ---	---	---

株式会社アイテス

所在地

滋賀県

従業員数

106

事業内容

【解析・信頼性評価事業】　■電子部品各種データ収集から故障解析までの解析・評価　■研究開発・製造における原材料評価および特性評価【検査装置開発事業】　■太陽光パネル検査・測定器の開発・販売【電子機器修理事業】　■産業用機器およびパソコンの修理【ウェハー...

主要取引先

代表製品

パワーサイクル試験による接合部の信頼性評価と故障解析

概要

【その他のPWT2400A装置概要】 ■JESD51-14に準拠した測定法によるTj測定 ■試験中に自動で過渡熱抵抗測定の実施 ■TOパッケージ用の治具を標準で装備

用途/実績例

信頼性試験によるスペック確認と故障解析

概要

用途/実績例

パワーデバイスの故障解析

概要

・パッケージ状態・開封済みチップ・チップ単体・Wafer状態の裏面研磨　Siチップサイズ：200um～15mm ・IR-OBIRCH解析：　～100mA/10V　～100uA/25V　まで対応　　　　　　　　　感度：数十pA 　　　　　　　　　低倍最大視野：6.5...

用途/実績例

・ボンディング起因の不良　異物のアタック、応力によるクラック・ICプロセス起因の不良　各層パターンニング、ソースAl不良、異物混入、ゲート酸化膜破壊、転位・FIB-SEMによる拡散層観察
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所在地

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事業内容

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