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破壊試験機 - 企業ランキング(全7社)

更新日: 集計期間:2025年08月06日〜2025年09月02日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

会社名 代表製品
製品画像・製品名・価格帯 概要 用途/実績例
【試験スペック】 ■印加電圧:最大3kV(200mA) ■検出電流:1nA(検出抵抗1MΩ挿入) ■環境温度:恒温槽使用時、最高150℃、オーブン使用時、最高200℃(電圧1kV以下)
【その他の掲載内容(抜粋)】 ■非破壊解析(1) X線透視 ■非破壊解析(2) 超音波探傷 ■開封と外観観察 ■断面研磨(断面観察) ■FE-SEM/EDSによる断面解析 ■EOS破壊試験のまとめ
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  1. 代表製品
    TDDB(酸化膜破壊)試験TDDB(酸化膜破壊)試験
    概要
    【試験スペック】 ■印加電圧:最大3kV(200mA) ■検出電流:1nA(検出抵抗1MΩ挿入) ■環境温度:恒温槽使用時、最高150℃、オーブン使用時、最高200℃(電圧1kV以下)
    用途/実績例
    【資料】半導体デバイスの電気的破壊試験と故障解析【資料】半導体デバイスの電気的破壊試験と故障解析
    概要
    【その他の掲載内容(抜粋)】 ■非破壊解析(1) X線透視 ■非破壊解析(2) 超音波探傷 ■開封と外観観察 ■断面研磨(断面観察) ■FE-SEM/EDSによる断面解析 ■EOS破壊試験のまとめ
    用途/実績例