破壊試験機 - 企業ランキング(全7社)
更新日: 集計期間:2025年08月06日〜2025年09月02日
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会社名 | 代表製品 | ||
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製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
![]() TDDB(酸化膜破壊)試験
応相談 |
【試験スペック】 ■印加電圧:最大3kV(200mA) ■検出電流:1nA(検出抵抗1MΩ挿入) ■環境温度:恒温槽使用時、最高150℃、オーブン使用時、最高200℃(電圧1kV以下) | ||
【その他の掲載内容(抜粋)】 ■非破壊解析(1) X線透視 ■非破壊解析(2) 超音波探傷 ■開封と外観観察 ■断面研磨(断面観察) ■FE-SEM/EDSによる断面解析 ■EOS破壊試験のまとめ | |||
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- 代表製品
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TDDB(酸化膜破壊)試験
- 概要
- 【試験スペック】 ■印加電圧:最大3kV(200mA) ■検出電流:1nA(検出抵抗1MΩ挿入) ■環境温度:恒温槽使用時、最高150℃、オーブン使用時、最高200℃(電圧1kV以下)
- 用途/実績例
【資料】半導体デバイスの電気的破壊試験と故障解析
- 概要
- 【その他の掲載内容(抜粋)】 ■非破壊解析(1) X線透視 ■非破壊解析(2) 超音波探傷 ■開封と外観観察 ■断面研磨(断面観察) ■FE-SEM/EDSによる断面解析 ■EOS破壊試験のまとめ
- 用途/実績例
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