表面分析装置 - 企業ランキング(全9社)

更新日：2025年09月10日集計期間:2025年08月13日〜2025年09月09日
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会社名	企業情報	代表製品
会社名	企業情報	製品画像・製品名・価格帯	概要	用途/実績例
一般財団法人材料科学技術振興財団　MST	所在地東京都事業内容受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします！半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。まずはご相談下さい。 ◆事業領域◆ 1. 科学技術分野における材料に関する基礎的研究及び解析・評価。 2. 半導体、生理学生化学、バイオ関連分野及び各種先端的分野についての基礎的研究及び解析・評価。 3. １、２号に掲げる国内外における関連分野の研究機関又は個人に対する表彰及び支援。 4. １、２号に掲げる研究成果等の出版または出版の支援。 5. １、２号に掲げる国内外における関連分野の調査。 6. １、２号に掲げる国内外における関連分野に関する研修の実施及び支援または研修所の運営。 7. その他目的を達成するために必要な事業。主要取引先半導体・製造装置メーカー、国内自動車・電機メーカー、食品メーカー、化粧品メーカー、医薬品メーカー	【分析事例】化学修飾XPSによる水酸基の定量応相談		電子部品・日用品の分析です
		【分析事例】Cu表面のXPSによる酸化状態評価応相談		測定法：XPS 製品分野：LSI・メモリ・電子部品分析目的：化学結合状態評価・組成評価・同定
		研究開発を加速する、[新]表面分析サービス開始！応相談	近年ご要望が増えている、深部の「定量評価」や「微細構造試料の結合状態解析」にお応えできるようになりました。従来のAl線・Mg線・Ga線に加え、新たにCr線を導入したことで、測定箇所を絞りつつ分析可能深さが最大30nmまで拡大。これにより、小スポットでも深部領域に対して評価が可能となりました。また、XPS（表面分析）とHAXPES（深部分析）が位置ズレなく同一箇所で測定できる点も、大きな特長です。	・半導体薄膜の表面及び界面の組成/結合状態評価・二次電池材料の表面及びバルクの組成/結合状態評価・コアシェル型ナノ粒子の組成/結合状態評価・有機膜の組成/結合状態の深さ方向分布評価・半導体薄膜のバンドギャップ評価
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一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

所在地

東京都

事業内容

受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします！半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。まずはご相談下さい。 ◆事業領域◆ 1. 科学技術分野における材料に関する基礎的研究及び解析・評価。 2. 半導体、生理学生化学、バイオ関連分野及び各種先端的分野についての基礎的研究及び解析・評価。 3. １、２号に掲げる国内外における関連分野の研究機関又は個人に対する表彰及び支援。 4. １、２号に掲げる研究成果等の出版または出版の支援。 5. １、２号に掲げる国内外における関連分野の調査。 6. １、２号に掲げる国内外における関連分野に関する研修の実施及び支援または研修所の運営。 7. その他目的を達成するために必要な事業。

主要取引先

半導体・製造装置メーカー、国内自動車・電機メーカー、食品メーカー、化粧品メーカー、医薬品メーカー

代表製品

【分析事例】化学修飾XPSによる水酸基の定量

概要

用途/実績例

電子部品・日用品の分析です

【分析事例】Cu表面のXPSによる酸化状態評価

概要

用途/実績例

測定法：XPS 製品分野：LSI・メモリ・電子部品分析目的：化学結合状態評価・組成評価・同定

研究開発を加速する、[新]表面分析サービス開始！

概要

近年ご要望が増えている、深部の「定量評価」や「微細構造試料の結合状態解析」にお応えできるようになりました。従来のAl線・Mg線・Ga線に加え、新たにCr線を導入したことで、測定箇所を絞りつつ分析可能深さが最大30nmまで拡大。これにより、小スポットでも深部領域に対して評価が可能となりました。また、XPS（表面分析）とHAXPES（深部分析）が位置ズレなく同一箇所で測定できる点も、大きな特長です。

用途/実績例

・半導体薄膜の表面及び界面の組成/結合状態評価・二次電池材料の表面及びバルクの組成/結合状態評価・コアシェル型ナノ粒子の組成/結合状態評価・有機膜の組成/結合状態の深さ方向分布評価・半導体薄膜のバンドギャップ評価
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所在地

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事業内容

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